[发明专利]电缆缺陷的检测方法及装置、存储介质、处理器有效

专利信息
申请号: 201811645799.4 申请日: 2018-12-30
公开(公告)号: CN109596634B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 郭卫;任志刚;齐伟强;徐兴全;李邦彦;姚玉海;桂媛;杨亚奇;潘泽华;刘若溪;方春华;徐一伦;杨司齐 申请(专利权)人: 国网北京市电力公司;国家电网有限公司;三峡大学
主分类号: G01N21/94 分类号: G01N21/94;G01N21/88;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/194;G06T7/40
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 赵囡囡;董文倩
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 电缆 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质 处理器
【权利要求书】:

1.一种电缆缺陷的检测方法,其特征在于,包括:

采集待测电缆中间接头图像;

对所述待测电缆中间接头图像进行处理得到缺陷特征;

根据所述缺陷特征,确定所述待测电缆中间接头的缺陷检测结果,其中,所述缺陷检测结果包括以下至少之一:无缺陷、主绝缘表面污渍、主绝缘划伤、外半导电层剥离不齐;

其中,对所述待测电缆中间接头图像进行处理得到缺陷特征之前,对所述待测图像进行预处理,所述预处理包括:将所述待测电缆中间接头图像由彩色图像转换为灰度图像;对所述灰度图像进行去噪处理;对去噪后的图像进行分割,得到主绝缘图像和外半导电层图像;

对去噪后的图像进行分割,得到主绝缘图像和外半导电层图像之后,所述方法还包括:获取外半导电层纹理特性,所述外半导电层纹理特性是所述外半导电层图像灰度的统计特性;采用Kirsch算子进行边缘检测,提取外半导电层的边缘;将提取边缘后的图像进行处理,得到外半导电层的矩形度;根据所述矩形度,判断外半导电层是否为剥离不齐缺陷。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述缺陷特征,确定所述待测电缆中间接头的缺陷检测结果之后,所述方法还包括:

判断所述检测结果是否为待测电缆中间接头存在缺陷;

在所述待测电缆中间接头存在缺陷的情况下,发送报警信号。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述去噪处理包括:

采用双边滤波法对所述图像进行滤波;

对滤波后的图像进行图像增强。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对去噪后的图像进行分割,得到主绝缘图像和外半导电层图像之后,包括:

对所述主绝缘图像进行灰度分量分析,确定主绝缘区域;

获取所述主绝缘区域的纹理特性,所述主绝缘区域的纹理特性是所述主绝缘区域图像灰度的统计特性;

将所述纹理特性中的特征输入神经网络模型,得到所述主绝缘缺陷类型。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述特征包括以下至少之一:均值、标准偏差、平滑度、三阶矩、一致性及熵、灰度色差。

6.一种电缆缺陷的检测装置,其特征在于,包括:

采集单元,用于采集待测电缆中间接头图像;

数据处理单元,与所述采集单元连接,用于执行权利要求1至5中任意一项所述的电缆缺陷的检测方法。

7.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质包括存储的程序,其中,在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行权利要求1至5中任意一项所述的电缆缺陷的检测方法。

8.一种处理器,其特征在于,所述处理器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行权利要求1至5中任意一项所述的电缆缺陷的检测方法。

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