[发明专利]一种检测电路和检测方法

说明书

本发明实施例提供了一种检测电路和检测方法，检测电路包括：被测模块和检测模块；被测模块具有翻转状态输出端以及数据输出端，被测模块通过翻转状态输出端与检测模块连接，被检测模块还通过数据输出端与预置的数据处理装置连接；被测模块用于生成粒子翻转状态数据和运算结果数据。本发明实施例可以依据粒子翻转状态数据与预置的翻转参考数据的匹配情况，判断被测模块是否发生存储错误；判断被测模块是否发生存储错误的基础上，依据运算结果数据与预置的逻辑参考数据的匹配情况，判断被测模块是否发生采样错误。从而实现检测被测模块存储的数据是否发生错误，以及数据的错误类型，进而确定被测模块在受到粒子束辐射时的稳定性。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别是涉及一种检测电路和一种检测方法。

背景技术

单粒子翻转(Single-Event Upsets)效应，是指数字电路芯片在辐射环境，大量高能带电粒子引起电位状态的跳变，“0”变成“1”，或者“1”变成“0”的现象。为保证航天设备在轨正常运行，利用地面高能质子或重离子辐射模拟设备对电子元器件进行辐照测试(包括抗单粒子翻转、单粒子锁定、单粒子烧毁能力)，并尽可能对器件内部单粒子翻转敏感模块进行定位，为器件后续抗辐射加固设计提供支持。

现有的一种辐照测试方案是将输入数据扫描到扫描链中，在扫描链移位的同时向器件施加粒子束，然后比较输出数据和输入数据的差别，得出单粒子翻转测试结果，但是这种方案只能进行时序逻辑测试，不能进行组合逻辑测试。

现有的另一种辐照测试方案是在辐照测试前，初始配置状态寄存器或运行功能测试程序；在辐照测试过程中循环读取并检测状态寄存器中的数据。如果检测到状态寄存器中的数据发生翻转错误，则记录错误日志，并重新配置所述状态寄存器；重复执行上述步骤，直到统计出一定次数翻转错误或辐照达到累计规定的注量时，停止测试。但是这种方案只能测试状态寄存器所代表功能的测试结果，无法定位到具体器件的错误，并且状态寄存器本身可能会因受到辐照影响而使得测试结果不准确。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明实施例以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种检测电路和一种检测方法。

为了解决上述问题，本发明实施例公开了一种检测电路，包括：被测模块和检测模块；所述被测模块具有翻转状态输出端以及数据输出端，所述被测模块通过所述翻转状态输出端与所述检测模块连接，所述被检测模块还通过所述数据输出端与预置的数据处理装置连接；

所述被测模块，用于接收所述数据处理装置发送的初始信息，并将所述初始信息中携带的输入数据进行存储；

所述被测模块，还用于在受到粒子束辐射的情况下，接收所述数据处理装置发送的第一驱动信号，依据所述输入数据和所述第一驱动信号，生成粒子翻转状态数据和生成运算结果数据，以及将所述粒子翻转状态数据发送至所述检测模块；

所述被测模块，还用于接收所述数据处理装置发送的第二驱动信号，依据所述第二驱动信号将所述运算结果数据发送至所述数据处理装置；

所述检测模块，用于接收所述数据处理装置发送的第三驱动信号，依据所述第三驱动信号将所述粒子翻转状态数据发送至所述数据处理装置；

所述数据处理装置，用于依据所述运算结果数据、所述粒子翻转状态数据，以及预置参考数据，生成数据检测结果。

可选地，所述被测模块包括扫描链单元；所述扫描链单元包括依次连接的具有所述翻转状态输出端的第一触发器；所述第一触发器包括第一扫描输入端、第一扫描输出端和第一扫描控制端；所述第一触发器的第一扫描输入端与前一个第一触发器的第一扫描输出端连接，所述第一触发器的第一扫描控制端与所述数据处理装置连接；所述扫描链单元中的第一个所述第一触发器的第一扫描输入端与所述数据处理装置连接；所述初始信息包括第一扫描使能信号；