[发明专利]SAR成像方法及装置,SAR成像系统在审
申请号: | 201811648144.2 | 申请日: | 2018-12-29 |
公开(公告)号: | CN109828271A | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 樊素红 | 申请(专利权)人: | 北京行易道科技有限公司 |
主分类号: | G01S13/90 | 分类号: | G01S13/90;G01S7/41 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 赵囡囡;董文倩 |
地址: | 100192 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 回波数据 频域 匹配滤波 二维图谱 预处理 读取 修正 存储设备 成像 | ||
1.一种SAR成像方法,其特征在于,包括:
获取频域回波数据,其中,所述频域回波数据是对原始回波数据进行预处理后得到的数据,所述原始回波数据是SAR接收到的回波数据;
从FPGA的存储设备中读取匹配滤波系数;
将所述匹配滤波系数与所述频域回波数据进行复乘,以对所述频域回波数据对应的二维图谱进行修正,并基于修正后的二维图谱进行成像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在从FPGA的存储设备中读取匹配滤波系数之前,还包括:确定所述匹配滤波系数;
其中,确定所述匹配滤波系数包括:
利用预定软件确定匹配滤波函数的函数值,其中,所述预定软件包括:MATLAB;
基于所述函数值得到所述匹配滤波系数。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述匹配滤波函数为:SR=exp(j*pi*tp/B*fa2),其中,SR为所述函数值,j表示虚数单位,pi表示常数π,tp表示回波数据的采样时间,B表示带宽,fa表示目标距离。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,确定所述匹配滤波系数还包括:
利用欧拉公式将所述匹配滤波函数转换为第一公式,根据所述第一公式确定所述匹配滤波系数,其中,所述第一公式为:SR=cos(pi*tp/B*fa2)+jsin(pi*tp/B*fa2),SR为所述函数值,j表示虚数单位,pi表示常数π,tp表示回波数据的采样时间,B表示带宽,fa表示目标距离;
提取所述第一公式中的实部和虚部,将所述实部和所述虚部确定为所述匹配滤波系数。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在确定所述匹配滤波系数之后,还包括:
将所述匹配滤波系数转化为所述FPGA的存储设备可识别的预定格式,得到处理后的匹配滤波系数;
将所述处理后的匹配滤波系数进行分别存储。
6.一种SAR成像装置,其特征在于,包括:
获取单元,用于获取频域回波数据,其中,所述频域回波数据是对原始回波数据进行预处理后得到的数据,所述原始回波数据是SAR接收到的回波数据;
读取单元,用于从FPGA的存储设备中读取匹配滤波系数;
处理单元,用于将所述匹配滤波系数与所述频域回波数据进行复乘,以对所述频域回波数据对应的二维图谱进行修正,并基于修正后的二维图谱进行成像。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,还包括:确定单元,用于在从FPGA的存储设备中读取匹配滤波系数之前,确定所述匹配滤波系数;
其中,所述确定单元包括:
确定模块,用于利用预定软件确定匹配滤波函数的函数值,其中,所述预定软件包括:MATLAB;
获取模块,用于基于所述函数值得到所述匹配滤波系数。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述匹配滤波函数为:SR=exp(j*pi*tp/B*fa2),其中,SR为所述函数值,j表示虚数单位,pi表示常数π,tp表示回波数据的采样时间,B表示带宽,fa表示目标距离。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,所述确定模块还包括:
转换子模块,用于利用欧拉公式将所述匹配滤波函数转换为第一公式,根据所述第一公式确定所述匹配滤波系数,其中,所述第一公式为:SR=cos(pi*tpB*fa2+jsin(pi*tpB*fa2),SR为所述函数值,j表示虚数单位,pi表示常数π,tp表示回波数据的采样时间,B表示带宽,fa表示目标距离;
确定子模块用于提取所述第一公式中的实部和虚部,将所述实部和所述虚部确定为所述匹配滤波系数。
10.一种SAR成像系统,其特征在于,所述SAR成像系统使用权利要求1至5中任意一项所述的SAR成像方法。
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