[发明专利]一种扫描振镜精度校正方法有效

专利信息
申请号: 201811653094.7 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109685744B 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 杨东辉;王婵 申请(专利权)人: 西安铂力特增材技术股份有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;B22F3/105
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 韩玙
地址: 710117 陕西省*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 扫描 精度 校正 方法
【说明书】:

发明公开了一种扫描振镜精度校正方法,首先在预先准备好的标准校正板上预先印刷圆形阵列,在圆形内部进行十字线标记;根据圆心坐标O换算十字标记线中心O’坐标,以向量OO’作为圆心和十字标记线中心的偏差;寻找第(n+1,m+1)个圆心,测量圆心O的偏差坐标O’,得到两者的偏差向量OO’,在之后处理所有点的过程中均减去该偏差向量OO’;第(n’,m’)个十字标记线中点的坐标为(n’×d,m’×d)+OO’+OOnm’;依次处理其他十字标记线中点的坐标,并计算与对应圆心得偏差向量;得到每个十字标记线中点坐标偏差的矩阵表。本发明解决了现有技术中存在的扫描仪扫描图像测距时提点精度不足的问题。

技术领域

本发明属于金属粉末激光熔化增材制造技术领域,具体涉及一种扫描振镜精度校正方法。

背景技术

金属粉末激光熔化增材制造技术能够成形复杂度和精确度较高的金属零部件。现阶段金属粉末激光熔化增材制造技术多采用振镜作为光路控制设备。场镜作为聚集激光的设备,在原理上就存在桶型畸变,校正好后使用一段时间也会发生精度漂移,需要再次校正。使用扫描仪扫描图像测距时经常会出现图像变形的情况,导致提点精度下降或者校正之后仍然存在变形问题。高精度影像仪可以解决提点精度不足的问题,但是不方便在客户现场使用高精度影像仪。

发明内容

本发明的目的是提供一种扫描振镜精度校正方法,解决了现有技术中存在的扫描仪扫描图像测距时提点精度不足的问题。

本发明所采用的技术方案是,一种扫描振镜精度校正方法,具体按照以下步骤实施:

步骤1、在预先准备好的标准校正板上预先印刷圆形阵列,圆形阵列为2n+1行、2m+1列,n、m均为整数,设相邻两圆心间距为d;

步骤2、在圆形内部进行十字线标记;

步骤3、设每个独立圆的圆心为O,十字标记线中心为O’,根据圆心坐标O换算十字标记线中心O’坐标,以避免扫描仪扫描过程中产生的误差,以向量OO’作为圆心和十字标记线中心的偏差;

步骤4、寻找位置处于中心的圆形,即圆形阵列的第(n+1,m+1)个圆心,设中心圆形坐标点为(0,0),测量圆心O的偏差坐标O’,得到两者的偏差向量OO’,在之后处理所有点的过程中均减去该偏差向量OO’;

步骤5、对于第(n’,m’)个圆,其圆心坐标为(n’×d,m’×d),第(n’,m’)个十字标记线中点的坐标为(n’×d,m’×d)+OO’+OO nm’;

步骤6、依次处理其他十字标记线中点的坐标,并计算与对应圆心得偏差向量;得到每个十字标记线中点坐标偏差的矩阵表,进而用来进行场镜偏差的校正。

本发明的特点还在于,

步骤1中n=5,m=5。

步骤1中d=5。

本发明的有益效果是,一种扫描振镜精度校正方法,利用圆形阵列校正板进行校正,在校正时边扫描边计算,提升了计算精度,同时提高计算速度。得到的偏差矩阵可以用来进行场镜偏差的校正,解决了目前提点精度不足的问题,同时解决了在客户现场不方便使用高精度影像仪提点的问题。

附图说明

图1是本发明一种扫描振镜精度校正方法流程图;

图2是本发明一种扫描振镜精度校正方法中标准校正板示意图;

图3是本发明一种扫描振镜精度校正方法中进行十字线标记后的标准校正板示意图;

图4是本发明一种扫描振镜精度校正方法中坐标系中(0,0)点偏差向量示意图;

图5是本发明一种扫描振镜精度校正方法中坐标系中(n’,m’)点偏差向量示意图;

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