[发明专利]毫米波太赫兹成像设备及物体识别分类方法

权利要求书

1.一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，微极化片阵列、探测器阵列和图像处理装置，其中

所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上；

所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列；

所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；

所述图像处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类；和

所述微极化片阵列为一维阵列，所述探测器阵列为一维阵列，一维微极化片阵列包括线性排列的多个宏像素单元，其中每个宏像素单元为N*1的微极化片阵列，其中N为正整数，且N≥3，且每个宏像素单元包括至少N-1个不同的极化角度。

2.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，所述微极化片阵列包括多个微极化片，所述多个微极化片中的每个微极化片被完全极化或部分极化或不被极化。

3.根据权利要求2所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，所述探测器阵列包括多个感波单元，多个感波单元的数量与多个微极化片的数量相同，所述探测器阵列上的每个感波单元的位置与所述微极化片阵列上的每个微极化片的位置相对应。

4.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，每个宏像素单元的N个微极化片包括如下方式中的至少一种：N个线极化微极化片；N-1个线极化微极化片和一个圆极化微极化片；N-1个线极化微极化片和一个无极化微极化片；N个部分极化微极化片。

5.根据权利要求4所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，N个线极化微极化片的极化角度分别为Deg1、Deg2、Deg3、…DegN，其中

其中i为小于等于N的正整数。

6.根据权利要求4所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，N-1个线极化微极化片的极化角度分别为Deg1、Deg2、Deg3、…DegN-1，其中或

其中i为小于等于N-1的正整数；

其中，圆极化包括左旋圆极化和右旋圆极化中的至少一种。

7.根据权利要求4所述的毫米波太赫兹成像设备，其中部分极化微极化片包括一部分被线性极化且其他部分未被极化的微极化片，或者一部分被圆极化且其他部分未被极化的微极化片。

8.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其中极化角度是固定的或可调的。

9.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，还包括毫米波太赫兹辐射源，其用于向被检对象辐射毫米波太赫兹波。

10.根据权利要求9所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，所述微极化片阵列为一维阵列，所述探测器阵列为一维阵列，所述毫米波太赫兹成像设备还包括设置在被检对象和聚焦透镜之间的光路中的可旋转扫描反射镜。

11.根据权利要求10所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，所述可旋转扫描反射镜能够旋转以在不同旋转角度下，将被检对象上的相应部位成像在一维探测器阵列的相应感波单元上。

12.一种使用根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备进行物体识别分类的方法，包括：

通过所述聚焦透镜，使得被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波透过所述微极化片阵列且聚焦在所述探测器阵列上；

通过所述探测器阵列，将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；

利用图像处理装置处理所述极化图像以获得高分辨率极化图像；

基于获得的高分辨率极化图像，利用自动识别算法进行物体识别分类。