[发明专利]毫米波太赫兹成像设备及物体识别分类方法

权利要求书

1.一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备，其包括聚焦透镜，检测器和图形处理装置，其中

所述聚焦透镜设置在被检对象和所述检测器之间，且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述检测器上；

检测器，所述检测器包括天线阵列和探测器阵列，其中天线阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为所述探测器阵列的天线端口，所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上，且被构造为将所述天线阵列接收的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像；以及

所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述天线阵列的一侧，且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。

2.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，所述天线阵列包括多个接收天线，所述多个接收天线中的每个接收天线具有特定的极化方向。

3.根据权利要求2所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，所述探测器阵列包括多个感波单元，多个感波单元的数量与多个接收天线的数量相同，所述探测器阵列上的每个感波单元的位置与所述天线阵列上的每个接收天线的位置相对应。

4.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，所述天线阵列为一维阵列，所述探测器阵列为一维阵列，所述一维天线阵列包括线性排列的多个宏像素单元，其中每个宏像素单元为N*1的天线阵列，其中N为正整数，且N≥3，且每个宏像素单元包括至少N-1个不同的极化角度。

5.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，所述天线阵列为二维阵列，所述探测器阵列为二维阵列，所述二维天线阵列包括在二维平面上排列的多个宏像素单元，其中每个宏像素单元为M₁*M₂的天线阵列，其中M₁，M₂为正整数，且M₁，M₂≥2，且每个宏像素单元包括至少N-1个不同的极化角度，其中N＝M₁*M₂。

6.根据权利要求4或5所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，每个宏像素单元的N个接收天线包括如下方式中的至少一种：N个线极化接收天线；N-1个线极化接收天线和一个圆极化接收天线。

7.根据权利要求6所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，N个线极化接收天线的极化角度分别为Deg1、Deg2、Deg3、…DegN，其中

其中i为小于等于N的正整数。

8.根据权利要求6所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，N-1个线极化接收天线的极化角度分别为Deg1、Deg2、Deg3、…DegN-1，其中

或

其中i为小于等于N-1的正整数；

其中，圆极化包括左旋圆极化和右旋圆极化中的至少一种。

9.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，还包括毫米波太赫兹辐射源，其用于向被检对象辐射毫米波太赫兹波。

10.根据权利要求1所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，所述天线阵列为一维阵列，所述探测器阵列为一维阵列，所述毫米波太赫兹成像设备还包括设置在被检对象和聚焦透镜之间的光路中的可旋转扫描反射镜。

11.根据权利要求10所述的毫米波太赫兹成像设备，其中，所述可旋转扫描反射镜能够旋转以在一个特定旋转角度将被检对象上的特定部位成像在一维探测器阵列的特定感波单元上。