[实用新型]电容芯片测试插座有效
| 申请号： | 201820004034.1 | 申请日： | 2018-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN207923937U | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 甘贞龙;李成君;侯燕兵 | 申请（专利权）人： | 法特迪精密科技（苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 张欢勇 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试座 电容芯片 测试 螺旋顶杆结构 测试插座 卡紧装置 旋转装置 测试针 上座体 下座体 本实用新型 可翻转连接 螺栓连接 高频率 卡接 取出 相抵 贯穿 | ||
1.一种电容芯片测试插座，包括测试盖(1)和测试座(2)，所述测试盖(1)设置在所述测试座(2)的上方，所述测试座(2)与测试盖(1)可翻转连接，所述测试座(2)与测试盖(1)之间设有卡紧装置(4)和旋转装置(5)，所述卡紧装置(4)设置在旋转装置(5)相对的一侧，其特征在于：所述测试盖(1)与测试座(2)之间设置有电容芯片(7)，所述测试座(2)包括上座体(21)和下座体(22)，所述上座体(21)与下座体(22)通过螺栓连接，所述测试座(2)底部设置有螺旋顶杆结构(6)，所述螺旋顶杆结构(6)贯穿所述测试座(2)与所述电容芯片(7)相抵接，所述测试座(2)上设有若干测试针(8)，所述电容芯片(7)与若干所述测试针(8)卡接。
2.根据权利要求1所述的一种电容芯片测试插座，其特征在于：所述螺旋顶杆结构(6)包括第一顶杆(61)和第二顶杆(62)，所述第一顶杆(61)与第二顶杆(62)固定连接，所述第一顶杆(61)呈倒“T”型，且所述第一顶杆(61)设置在所述下座体(22)内，并贯穿所述上座体(21)与所述电容芯片(7)相抵接，所述第二顶杆(62)的直径与第一顶杆(61)的下端面一致，所述第一顶杆(61)的“T”字台阶两侧均设有复位弹簧(63)，所述复位弹簧(63)的上端抵接所述上座体(21)，且所述复位弹簧(63)的上端低于所述电容芯片(7)的下端。
3.根据权利要求2所述的一种电容芯片测试插座，其特征在于：所述第二顶杆(62)的下端设有旋转帽。
4.根据权利要求1所述的一种电容芯片测试插座，其特征在于：所述测试盖(1)包括上盖体(11)和下盖体(12)，所述测试座(2)上设有上盖板(3)，所述下盖体(12)与所述上盖板(3)固定连接，所述卡紧装置(4)和旋转装置(5)均设置在所述上盖体(11)与下盖体(12)之间，所述电容芯片(7)穿过所述下盖体(12)，所述测试针(8)穿过所述下盖体(12)与所述电容芯片(7)相抵接。
5.根据权利要求4所述的一种电容芯片测试插座，其特征在于：所述卡紧装置(4)包括设置在所述上盖体(11)上的卡勾(41)和设置在所述下盖体(12)上的卡槽(42)，所述卡勾(41)与所述卡槽(42)卡接。
6.根据权利要求4所述的一种电容芯片测试插座，其特征在于：所述旋转装置(5)包括设置在所述上盖体(11)上的连接件(51)和设置在所述下盖体(12)上的枢孔(52)，所述连接件(51)与所述枢孔(52)枢轴连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于法特迪精密科技（苏州)有限公司，未经法特迪精密科技（苏州)有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201820004034.1/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：车灯自动检测装置
- 下一篇：一种全金属结构的半导体集成电路测试插座
