[实用新型]OLED面板用外观缺陷检测单元及其检测系统有效
| 申请号： | 201820024481.3 | 申请日： | 2018-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN207816854U | 公开（公告）日： | 2018-09-04 |
| 发明（设计）人： | 钱方杰;黄美娟 | 申请（专利权）人： | 凯吉凯精密电子技术开发(苏州)有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 蒋慧妮 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市金鸡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 图像采集机构 光源反射 外观缺陷检测 本实用新型 检测系统 暗光源 采集端 光机构 缺陷检测 系统结构 半反射 检测 半透 | ||
1.OLED面板用外观缺陷检测单元，包括图像采集机构，所述图像采集机构的正下方设置有用于检测的OLED样品，其特征在于：所述图像采集机构的下方依次设置有光源反射机构及暗光源出光机构，所述光源反射机构设置于所述图像采集机构采集端两侧，所述暗光源出光机构设置于所述光源反射机构的外侧，所述图像采集机构与所述光源反射机构之间还设置有一第二图像采集机构，所述第二图像采集机构的采集端设置有一半透半反射机构，所述半透半反射机构设置于所述图像采集机构的正下方。
2.如权利要求1所述的OLED面板用外观缺陷检测单元，其特征在于：所述光源反射机构为光源反射镜，且两个所述光源反射镜近端距离大于所述光源反射镜远端距离。
3.如权利要求1所述的OLED面板用外观缺陷检测单元，其特征在于：所述半透半反射机构为半透半反射镜，且所述半透半反射镜与所述图像采集机构及第二图像采集机构之间均呈夹角设置。
4.如权利要求1所述的OLED面板用外观缺陷检测单元，其特征在于：所述图像采集机构及第二图像采集机构均包括相机、设置于相机一端的镜头。
5.如权利要求4所述的OLED面板用外观缺陷检测单元，其特征在于：所述相机为CCD工业相机。
6.如权利要求4所述的OLED面板用外观缺陷检测单元，其特征在于：所述镜头为FA工业镜头。
7.如权利要求1所述的OLED面板用外观缺陷检测单元，其特征在于：所述图像采集机构设置于支架上，且所述支架上设置有轨道，所述图像采集机构在所述轨道上进行上、下移动。
8.OLED面板用外观缺陷检测系统，其特征在于：包括如权利要求1-7中任意一项所述的OLED面板用外观缺陷检测单元，及与所述OLED面板用外观缺陷检测单元通过电性连接的PC，所述PC的第二控制端与待检测OLED面板电性连接。
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