[实用新型]一种用于IGBT绝缘栅双极型晶体管的测试适配器

说明书

本实用新型公开了一种用于IGBT绝缘栅双极型晶体管的测试适配器，包括插口和磁环，所述插口为三个且彼此分立，所述测试适配器的插口处内侧边缘分别设有两个夹片，一端插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的B端连接，中间插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的C端连接，另一端插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的E端连接；每条接线上均设有磁环，所述每条接线分别从每个磁环的环孔穿过。本实用新型提供一种用于IGBT管的测试适配器，能够提高被测器件的测试效率以及测试精度。

技术领域

本实用新型涉及可靠性筛选及测试领域，特别是指一种用于IGBT绝缘栅双极型晶体管的测试适配器。

背景技术

IGBT管(绝缘栅双极型晶体管)是由MOS管(场效应管)和双极型达林顿管结合而成。普通的场效应管仅需微弱的驱动电压即可工作，但工作在高电压和大电流状态下，因为内阻较大，管子发热很快，难以长时间在高电压和大电流状态下工作。大功率的达林顿管虽然可以在高电压和大电流的状态下长时间工作，但需要较大的驱动电流。因而将MOS管作为推动管，大功率达林顿管作为输出管，这样两者优点有机的结合成现在的IGBT管，导致现在IGBT管的种类和数量不断增多。

目前，测试IGBT管都是用带引线的夹子与半导体分立器件测试系统相连，然后再用夹子夹住被测器件的管腿来进行测试，每个夹子有两根引线，分别将夹子上的两条引线与设备相接，夹子头与被测器件相接。这种测试方法不仅大大降低了工作效率，且人工测试过程测试误差大，不利于在批量生产中的应用。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种用于IGBT管的测试适配器，能够提高被测器件的测试效率以及测试精度。

基于上述目的本实用新型提供的一种用于IGBT绝缘栅双极型晶体管的测试适配器，其特征在于，包括插口和磁环，所述插口为三个且彼此分立，所述测试适配器的插口处内侧边缘分别设有两个夹片，一端插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的B端连接，中间插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的C端连接，另一端插口处的两个夹片通过接线与半导体分立器件测试系统的E端连接；每条接线上均设有磁环，所述每条接线分别从每个磁环的环孔穿过。

可选的，所述一端插口处的一个夹片连接半导体分立器件测试系统的B_S端，所述一端插口处的另一个夹片连接半导体分立器件测试系统的B_F端。

可选的，所述中间插口处的一个夹片连接半导体分立器件测试系统的C_S端，所述中间插口处的另一个夹片连接半导体分立器件测试系统的C_F端。

可选的，所述另一端插口处的一个夹片连接半导体分立器件测试系统的E_S端，所述另一端插口处的另一个夹片连接半导体分立器件测试系统的E_F端。

可选的，所述测试适配器与半导体分立器件测试系统采用开尔文连接。

可选的，所述夹片表面有镀金层。

从上面所述可以看出，本实用新型提供的一种用于IGBT管的测试适配器，利用半导体分立器件测试系统的测试平台及二极管的测试原理，将测试适配器的插口处分别设有上下两个夹片以及开尔文接法，根据被测器件的不同管脚分布及不同内部结构的需要进行改造，无需改变端口，结构方便灵活，使用时无需频繁的测试被测器件中的晶体管，实用性强。同时接线上连有磁环，以防被测器件在加电过程中被测器件本身产生自激现象。

本实用新型提供的测试适配器，能够一次性快速实现被测器件的全部参数的测试需求，并且提高了测试精度以及产品批生产过程中的测试效率。

附图说明

图1为IGBT管的内部结构示意图；