[实用新型]一种刀具检测仪有效
申请号: | 201820050727.4 | 申请日: | 2018-01-12 |
公开(公告)号: | CN207717652U | 公开(公告)日: | 2018-08-10 |
发明(设计)人: | 周治鑫 | 申请(专利权)人: | 深圳市深视光谷光学仪器有限公司 |
主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956;G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 高精度移动平台 控制旋钮 固定块 刀具检测 设备基座 工业CCD 旋钮 本实用新型 固定螺杆 镜头固定 螺纹套接 平台控制 影响检测 影响视觉 从设备 可调节 可调整 双镜头 台控制 掉落 显示器 配合 聚焦 侧面 贯穿 检测 延伸 | ||
本实用新型涉及镜头固定环技术领域,且公开一种刀具检测仪,包括设备基座,所述设备基座的顶部固定安装有高精度移动平台,所述高精度移动平台的顶部固定安装有位于设备基座顶部的平台控制旋钮,所述高精度移动平台的顶部固定安装有Z轴固定块,所述Z轴固定块的侧面螺纹套接有Z轴控制旋钮,所述Z轴控制旋钮的一端贯穿Z轴固定块并延伸至Z轴固定块的内部。该刀具检测仪,通过高精度移动平台和平台控制旋钮的配合,防止在检测过程中,高精度移动平台从设备基座上掉落,利用Z轴控制旋钮的配合,使得工业CCD可调整高度,防止工业CCD过低或过高影响检测的效果,利用固定螺杆的作用,解决了双镜头聚焦的难题,利用Z轴控制旋钮的作用,使得工业CCD可调节高度,防止显示器过高,影响视觉效果。
技术领域
本实用新型涉及镜头固定环技术领域,具体为一种刀具检测仪。
背景技术
刀具检测仪具有高分辨率CCD工业相机用于对刀具边缘进行无接触表面光及透射光测量,和对刀头几何图形进行表面光测量的刀具检测理想仪器。
目前市场上大部分的刀具外观镜头固定环,大多采用传统的体视显微镜,影响检测的结果,大部分的刀具镜头固定环,在检查过程中,无法对刀具的正面和截面同步检测,检测的结果,无法展现在眼前,双镜头聚焦的问题,也导致检测的结果受到影响,长时间的检测,容易疲劳,效率低下。
实用新型内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足,本实用新型提供了一种刀具检测仪,具备刀具正面和截面同步检测、图像测量数据的储存等优点,解决了目前市场上大部分的刀具外观镜头固定环,大多采用传统的体视显微镜,影响检测的结果,大部分的刀具镜头固定环,在检查过程中,无法对刀具的正面和截面同步检测,检测的结果,无法展现在眼前,双镜头聚焦的问题,也导致检测的结果受到影响,长时间的检测,容易疲劳,效率低下的问题。
(二)技术方案
为实现上述刀具正面和截面同步检测、图像测量数据的储存的目的,本实用新型提供如下技术方案:一种刀具检测仪,包括设备基座,所述设备基座的顶部固定安装有高精度移动平台,所述高精度移动平台的顶部固定安装有位于设备基座顶部的平台控制旋钮,所述高精度移动平台的顶部固定安装有Z轴固定块,所述Z轴固定块的侧面螺纹套接有Z轴控制旋钮,所述Z轴控制旋钮的一端贯穿Z轴固定块并延伸至Z轴固定块的内部,所述Z轴固定块的侧面固定连接有镜头固定块,所述镜头固定块的一端固定安装有镜头固定环,所述镜头固定环的侧面固定安装有设备镜头,所述设备镜头的一端固定安装有工业CCDⅠ,所述镜头固定环的顶部活动套接有固定螺杆,所述设备基座的顶部固定安装有位于高精度移动平台侧面的固定底座,所述固定底座的顶部固定安装有Z轴调节机构,所述Z轴调节机构的侧面活动套装有Z轴控制旋钮,所述Z轴调节机构的一端固定安装有支撑杆,所述支撑杆的一端固定连接有工业CCDⅡ,所述工业CCDⅡ的底部固定安装有固定支架,所述固定支架的侧面固定套装有固定横杆,所述固定横杆的一端活动套装有显示器,所述设备基座的顶部固定安装有位于固定底座侧面的高精度移动平台,所述高精度移动平台的顶部固定安装有研磨机设备,所述研磨机设备的侧面活动套装有研磨机控制杆,所述研磨机设备的外侧固定安装有位于高精度移动平台顶部的研磨机转轮。
优选的,所述研磨机转轮的底部固定安装限位块,所述限位块的一端与高精度移动平台的顶部固定连接,所述研磨机转轮的侧面活动套装有转动轴,所述转动轴的一端固定连接有转轮控制杆。
优选的,所述显示器的数量有两个,两个所述显示器均相互对称的分布在两个固定横杆的一端。
优选的,所述镜头固定环的一端正对着研磨机设备,所述镜头固定环内安装有数据储存室。
优选的,所述Z轴控制旋钮的一端贯穿Z轴调节机构并延伸至Z轴调节机构的内部,所述Z轴控制旋钮的一端与Z轴调节机构相互垂直,且Z轴控制旋钮的一端与Z轴调节机构活动连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市深视光谷光学仪器有限公司,未经深圳市深视光谷光学仪器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201820050727.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种灯泡外观检测设备
- 下一篇:一种全自动光学检测识别设备