[实用新型]一键式3D轮廓测量仪

说明书

本实用新型公开了一种一键式3D轮廓测量仪，包括机架以及安装于机架上的载物装置、面阵测量装置、厚度光谱测量装置和控制显示装置，控制显示装置连接面阵测量装置和厚度光谱测量装置；机架包括机箱和固定于机箱顶部的立柱；立柱上设有底部敞口的护罩；面阵测量装置和厚度光谱测量仪均位于护罩内，载物装置安装于机箱的顶部，载物装置包括XY轴移动机构以及连接XY轴移动机构的载物台；载物台设有安装孔，安装孔内安装光学玻璃。本实用新型通过在机架上设置面阵检测装置、厚度光谱测量装置以及连接面阵检测装置和厚度光谱测量装置的控制显示装置，实现了被测物体的表面尺寸测量和厚度测量在同一台机器上实现，减小了占用空间，降低了制作成本。

技术领域

本实用新型涉及实验设备技术领域，特别是涉及一种一键式3D轮廓测量仪。

背景技术

影像量测是目前精密量测领域中应用最广泛的测量方法，该方法不仅精度高，而且测量测度块。影响量测可以用于两件或者不见得尺寸误差和行为误差等的测量，对保证产品质量起着重要的作用。

一般而言，由于零件或者部件表面高低不平，在对某部位进行影响量测时，通常都需要对焦，使得该部位到镜头的距离等于焦距，在这里，具体对焦过程为：在一定范围内移动CCD镜头，不断获取待测量部位的影响，然后根据获取的影响计算出CCD镜头的焦点位置，再将CCD镜头移动到该焦点位置进行影响获取及量测，这种影响量测方法不仅浪费时间，而且所计算出来的焦点位置也不一定准确。针对这种情况，出现了厚度光谱测量仪，其是采用宽普光源照射到被测物体表面，由光谱分析仪探测反射回来的光谱，确定完美聚焦于物体的峰值波长，从而确定被测物体表面距离色散镜头的距离，进而计算得到被测物体的厚度。目前在对物体进行测量时，除了要测量厚度外，还要测量物体的表面尺寸，目前这两种操作是分别通过厚度光谱测量仪和面阵实验平台两台不同的机器实现的，占用的空间比较大，而且成本也高。

实用新型内容

基于此，针对现有物体的厚度测量和表面尺寸测量是分别通过光谱测量和面阵实验平台两台不同的机器实现，占用空间大，成本高的问题，提供一种能将面阵实验平台和厚度光谱测量仪二为一的一键式3D轮廓测量仪。

为了实施上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种一键式3D轮廓测量仪，其特征在于，包括机架以及安装于所述机架上的载物装置、面阵测量装置、厚度光谱测量装置和控制显示装置，所述控制显示装置连接所述面阵测量装置和厚度光谱测量装置；所述机架包括机箱和固定于所述机箱顶部的立柱；所述立柱上设有底部敞口的护罩；所述面阵测量装置和厚度光谱测量仪均位于所述护罩内，所述面阵测量装置包括固定于所述立柱上的第一固定架、固定于所述第一固定架上的第二固定架、安装于所述第一固定架上的远心镜头、配装于所述远心镜头上的面阵工业相机、以及安装于所述第二固定架上的圆形光源；所述面阵工业相机和圆形光源分别位于所述远心镜头的上方和下方，所述圆形光源对应所述远心镜头设置；所述载物装置安装于机箱的顶部，所述载物装置包括XY轴移动机构以及连接所述所述XY轴移动机构的载物台；所述载物台设有安装孔，所述安装孔内安装光学玻璃。

上述的一键式3D轮廓测量仪，通过在机架上设置面阵检测装置、厚度光谱测量装置以及连接面阵检测装置和厚度光谱测量装置的控制显示装置，实现了被测物体的表面尺寸测量和厚度测量在同一台机器上实现，减小了占用空间，降低了制作成本。

在其中一实施例中，所述面阵测量装置还包括设于所述机箱内的远心光源；所述XY轴移动机构对应所述光学玻璃设有让位孔，所述机箱对应所述远心镜头设有穿光孔，当所述光学玻璃位于所述圆形光源的正下方时，所述穿光孔连通所述让位孔。

在其中一实施例中，所述第二固定架上设有用于连接第一固定架的调节长孔，所述调节长孔沿所述立柱的高度方向延伸。

在其中一实施例中，所述调节长孔为矩形长孔或腰形长孔。