[实用新型]一种测量介质厚度的测量装置

说明书

本实用新型涉及无机非金属新材料性能的测试技术领域，公开了一种测量介质厚度的测量装置，包括：下支撑台；上支撑台，所述上支撑台通过支撑柱与所述下支撑台上下相对设置并且间隔开；上极片，所述上极片设置在所述上支撑台的下方；位置调节组件，所述位置调节组件的第一端穿过所述上支撑台并与所述上极片固定连接；下极片，所述下极片设置在所述下支撑台的上表面；设置在所述下极片的上表面且能够容纳待测样品粉末的腔体结构；以及设置在所述腔体结构的外围并能够承接从所述腔体结构溢出的待测样品粉末的收纳结构。该测量装置具有避免待测样品粉末溢出导致难清理的优点。

技术领域

本实用新型涉及无机非金属新材料性能的测试技术领域，特别是涉及一种测量介质厚度的测量装置。

背景技术

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质介电常数，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，从而为提高材料的性能提供依据。

在介电常数的测试过程中，使用现有的测量装置测量凹槽中样品粉末的厚度时，由于凹槽中样品粉末表面的高度基本与凹槽高度齐平，通过旋转测微杆使测量装置的上极片接触至粉末时，会使少量粉末溢出，掉落在测量装置的平台上或者是缝隙中，甚至是掉落在主机上方的电容按钮中，这不仅会造成后续清理工作的困难，更严重的是由于缝隙中的粉末很难清理干净，长期积累很可能会造成仪器的精度降低甚至是损坏。

实用新型内容

(一)要解决的技术问题

本实用新型的目的是提供一种测量介质厚度的测量装置，以解决现有技术中的测量装置测量凹槽中样品粉末的厚度时，由于凹槽中样品粉末表面的高度基本与凹槽高度齐平，通过旋转测微杆使测量装置的上极片接触至粉末时，会使少量粉末溢出，掉落在测量装置的平台上或者是缝隙中，甚至是掉落在主机上方的电容按钮中，这不仅会造成后续清理工作的困难，更严重的是由于缝隙中的粉末很难清理干净，长期积累很可能会造成仪器的精度降低甚至是损坏的技术问题。

(二)技术方案

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种测量介质厚度的测量装置，包括：下支撑台；上支撑台，所述上支撑台通过支撑柱与所述下支撑台上下相对设置并且间隔开；上极片，所述上极片设置在所述上支撑台的下方；位置调节组件，所述位置调节组件的第一端穿过所述上支撑台并与所述上极片固定连接；下极片，所述下极片设置在所述下支撑台的上表面；设置在所述下极片的上表面且能够容纳待测样品粉末的腔体结构；以及设置在所述腔体结构的外围并能够承接从所述腔体结构溢出的待测样品粉末的收纳结构。

其中，所述腔体结构包括底壁以及设置在所述底壁的上表面的环壁。

其中，在所述底壁的下表面设有固定环套，其中，所述固定环套套设在所述下极片的外围。

其中，所述收纳结构构造为上端具有开口的环形槽体。

其中，所述位置调节组件包括测微杆和微调旋钮，其中，所述测微杆的第一端穿过所述上支撑台并与所述上极片固定连接，所述微调旋钮设置在所述测微杆的第二端。

其中，所述位置调节组件还包括套设在所述测微杆的中间区域的微分筒以及套设在所述微分筒的外围的粗调套筒旋钮。

其中，在所述测微杆的外周并位于所述微分筒的下端区域设有纵向位移刻度尺。

其中，在所述上支撑台的上表面还设有液晶显示器。

其中，在所述下支撑台的下表面还设有夹具插头。

(三)有益效果

本实用新型提供的测量装置，与现有技术相比，具有如下优点：