[实用新型]一种集成了周边RC snubber结构的碳化硅SBD器件元胞结构有效

专利信息
申请号: 201820101694.1 申请日: 2018-01-22
公开(公告)号: CN211480042U 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 袁俊;黄兴;倪炜江;徐妙玲;张敬伟;牛喜平;李明山;窦娟娟;陈欣璐;吕枞;耿伟 申请(专利权)人: 北京世纪金光半导体有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L29/40
代理公司: 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 代理人: 张宇锋
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 集成 周边 rc snubber 结构 碳化硅 sbd 器件
【权利要求书】:

1.一种集成了周边RC snubber结构的碳化硅SBD器件元胞结构,其特征在于,所述元胞结构的JTE区外围和划片道之间设置了多个深沟槽结构,所述深沟槽结构内依次填充高介电常数介质和多晶硅/致密性孔洞填充特性好的金属,并从所述多晶硅/致密性孔洞填充特性好的金属上用金属引出RC电极。

2.根据权利要求1所述的集成了周边RC snubber结构的碳化硅SBD器件元胞结构,其特征在于,所述深沟槽结构由ICP,RIE或激光烧孔工艺制作而成。

3.根据权利要求1所述的集成了周边RC snubber结构的碳化硅SBD器件元胞结构,其特征在于,所述高介电常数介质为SiO2、SiNx、Al2O3、AlN、HfO2、MgO、Sc2O3、Ga2O3、AlHFOx、HFSiON中的一种或任意几种。

4.根据权利要求1所述的集成了周边RC snubber结构的碳化硅SBD器件元胞结构,其特征在于,所述致密性孔洞填充特性好的金属为钨或钛。

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