[实用新型]一种Buck-Boost集成稳压芯片的好坏检测装置

说明书

本实用新型涉及Buck‑Boost集成稳压芯片的好坏检测装置，属芯片检测领域。包括8脚IC座、5脚IC座、多谐振荡电路、X9C102数字电位器、脉宽调制电路、组合逻辑控制电路、端口切换电路、升压电路；8脚IC座、5脚IC座均与端口切换电路相连，端口切换电路分别与脉宽调制电路、组合逻辑控制电路、升压电路连接，多谐振荡电路通过X9C102数字电位器与脉宽调制电路连接。本实用新型通过开关选择Buck‑Boost集成稳压芯片类型，并通过脉宽调制使Buck‑Boost集成稳压芯片工作在升压或降压状态，根据发光二极管的亮度判断被测芯片是否正常工作，结构简单，容易操作，检测效果好，结果显示浅显易懂。

技术领域

本实用新型涉及一种Buck-Boost集成稳压芯片的好坏检测装置，属于芯片检测技术领域。

背景技术

目前，人们在使用Buck-Boost集成稳压芯片遇到故障时，一般是将该芯片取出，安装到其典型电路中检测芯片的好坏，在检测过程中，人们借助万用表测量其每个管脚的电压是否正常，或通过调节电位器观察其输出电压信号是否变化来判断芯片的好坏，这种检测方法费时费力，且在检测过程中由于误将万用表的表笔或档位接错而使芯片烧毁的事故时常发生，不利于操作，且存在一定的安全隐患。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是：本实用新型提供一种Buck-Boost集成稳压芯片的好坏检测装置，用于解决现有的检测设备费时费力、不好操作、存在安全隐患的问题，本实用新型通过开关选择Buck-Boost集成稳压芯片的类型，并通过脉宽调制使Buck-Boost集成稳压芯片工作在升压或降压状态，从而根据发光二极管的亮度判断被测芯片是否正常工作。

本实用新型技术方案是：一种Buck-Boost集成稳压芯片的好坏检测装置，包括8脚IC座1、5脚IC座2、多谐振荡电路3、X9C102数字电位器4、脉宽调制电路5、组合逻辑控制电路6、端口切换电路7、升压电路8；8脚IC座1、5脚IC座2均与端口切换电路7相连，端口切换电路7分别与脉宽调制电路5、组合逻辑控制电路6、升压电路8连接，多谐振荡电路3通过X9C102数字电位器4与脉宽调制电路5连接；

所述组合逻辑控制电路6包括开关K1、K2、K3、K4、电阻R5、R6、R7、R8、非门N1、N2、N3、N4、四输入与门F1、F2、F3、F4、或门M1、M2；所述开关K1、K2、K3、K4的一端同时与+5V电源端连接，开关K1、K2、K3、K4的另一端分别连接着非门N1、N2、N3、N4的输入端，非门N1、N2、N3、N4的输入端分别通过电阻R5、R6、R7、R8接地，非门N1、N4的输入端分别与四输入与门F1的输入端A1、四输入与门F4的输入端D4连接，非门N2的输入端同时连接着四输入与门F2的输入端B2、四输入与门F3的输入端B3连接，非门N1的输出端同时连接着四输入与门F2的输入端A2、四输入与门F3的输入端A3、四输入与门F4的输入端A4，非门N2的输出端同时连接着四输入与门F1的输入端B1、四输入与门F4的输入端B4，非门N3的输出端同时连接着四输入与门F1的输入端C1、四输入与门F2的输入端C2、四输入与门F3的输入端C3、四输入与门F4的输入端C4，非门N4的输出端同时连接着四输入与门F1的输入端D1、四输入与门F2的输入端D2、四输入与门F3的输入端D3，四输入与门F1、F2的输出端Y1、Y2分别与或门M1的两个输入端连接，四输入与门F3、F4的输出端Y3、Y4分别与或门M2的两个输入端连接。

所述多谐振荡电路3包括555时基集成电路9、电阻R1、R2、二极管D1、D2、电容C1、C2；所述555时基集成电路9的RD端和VCC端同时与+5V电源端连接，555时基集成电路9的RD端通过电阻R1与其VOD端连接，555时基集成电路9的VOD端同时与电阻R2的一端和二极管D1的阳极连接，二极管D1的阴极同时与555时基集成电路9的TH端、TR端、二极管D2的阳极连接，二极管D2的阴极与电阻R2的另一端连接，555时基集成电路9的TR端、VCO端分别通过电容C1、C2与其GND端连接后接地，555时基集成电路9的VO端作为多谐振当电路3的输出端；