[实用新型]一种FID放大电路板快速测试装置

说明书

本实用新型公开了一种FID放大电路板快速测试装置，包括保温箱、基板、工作台、冲孔组件，所述保温箱顶部铰接有盖板，且保温箱内设有电机热机构，电加热机构与外部电源连接，所述保温箱的其中一侧板水平设有供电路板插入的条形孔，保温箱内设有温度表，且保温箱的其中一侧板上对应设有缺口，缺口内设有透明玻璃板，且所述基板设于保温箱内底面，工作台水平设于基板的上方、并通过支撑杆与基板连接，所述工作台的一侧分布有螺纹孔，且工作台的顶面安装有多组冲孔组件，所述冲孔组件包括旋转板、支撑柱、冲孔块，所述旋转板的一端与工作台的顶面旋转连接。本实用新型结构加简单、便于测试不同温度下电路板的打孔效果，打孔效率高、提高测试效率。

技术领域

本实用新型涉及电路板技术领域，尤其涉及一种FID放大电路板快速测试装置。

背景技术

FID, 全称为flame ionization detector，为火焰离子化检测仪，是一种高灵敏度通用型检测器，其内部结构中较多的使用到电路板；在使用过程中，需要在放大电路板上加工各种大小的孔，且电路板打孔的效果在不同温度下，会明显不同；一般在电路板打孔前，需对其进行预热，否则打孔时电路板易损坏、易产生裂纹，电路板打孔的效果往往跟操作环境的温度直接相关，而不同材料、大小、形状的电路板，打孔的较佳操作环境温度也是不同的，因此设计一种能高效快速测试出放大电路板打孔最佳温度的装置显得尤为重要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种FID放大电路板快速测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种FID放大电路板快速测试装置，包括保温箱、基板、工作台、冲孔组件，所述保温箱顶部铰接有盖板，且保温箱内设有电机热机构，电加热机构与外部电源连接，所述保温箱的其中一侧板水平设有供电路板插入的条形孔，保温箱内设有温度表，且保温箱的其中一侧板上对应设有缺口，缺口内设有透明玻璃板，且所述基板设于保温箱内底面，所述工作台水平设于基板的上方、并通过支撑杆与基板连接，所述工作台的一侧分布有螺纹孔，且工作台的顶面安装有多组冲孔组件。

所述冲孔组件包括旋转板、支撑柱、冲孔块，所述旋转板的一端与工作台的顶面旋转连接，旋转板的另一侧底面设有圆柱形的冲孔头，冲孔块为圆管状，且每个冲孔块的孔径大小不完全相同，且冲孔块的外表面设有螺纹，冲孔块与对应的螺纹孔配合连接，支撑柱对称设在对应冲孔块的左右两侧。

所述基板的底面设有收集盒，收集盒的内部与每个螺纹孔的下端口连通，且收集盒的一侧开口，开口处铰接有密封板，所述基板的底面设有吸风机，吸风机与收集盒内部连通。

进一步的，所述支撑柱为圆柱状，且支撑柱的顶面与冲孔块的顶面在同一水平面内。

进一步的，所述工作台上设有L形的承压板，承压板的底端设有支杆，支杆与工作台顶面滑动连接，承压板的水平板底面设有电磁铁，电磁铁与外部电源连接，且工作台的顶面设有与电磁铁相吸的永磁体。

进一步的，所述承压板的纵向板外表面内陷有矩形卡槽。

进一步的，所述旋转板的顶面均设有弧形杆状的把手。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型设计了内部温度能够不断变化的保温箱，并且保温箱内设置了基板，在基板上多组冲孔组件，每组冲孔组件内的冲孔块孔径大小不完全同，方便加工出不同大小的孔，可一次性使用多组冲孔组件，也可单独使用一组冲孔组件，便于使用，结果简单；随着温度的不断变化，方便测试出不同材质、不同尺寸孔的较佳加工温度；可同时使用多组冲孔组件，方便观察多组打孔效果，提高了测试结果的稳定性，使用方便，废料易于收集。

附图说明