[实用新型]一种检测探针有效
申请号: | 201820141041.6 | 申请日: | 2018-01-26 |
公开(公告)号: | CN207730804U | 公开(公告)日: | 2018-08-14 |
发明(设计)人: | 朱林;朱力;潘玲芳;屠美凤 | 申请(专利权)人: | 平湖市日拓电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067 |
代理公司: | 嘉兴永航专利代理事务所(普通合伙) 33265 | 代理人: | 贺宣潮 |
地址: | 314200 浙江省嘉兴市平湖*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 弹簧 针管 上滑套 挡板 下柱塞 探头 探针 本实用新型 种检测 元器件 五金 检测技术领域 滑动连接 检测探针 滑动 内壁 套接 贴靠 外壁 损伤 检测 伤害 | ||
本实用新型提供了一种检测探针,属于检测技术领域。它解决了现有探针的上探头易伤害电子五金元器件等技术问题。本检测探针包括针管、弹簧一和下柱塞,弹簧一设置在针管内,下柱塞滑动连接在针管的一端且弹簧一的一端与下柱塞抵靠,针管的另一端套接有上滑套,针管的外壁与上滑套的内壁贴靠且上滑套能相对针管滑动,上滑套的端部具有上探头,针管的另一端端部固定有挡板,弹簧一的另一端与挡板抵靠,上滑套内设有弹簧二,弹簧二的一端与上滑套抵靠,弹簧二的另一端与挡板抵靠。本实用新型具有上探头检测时不会对电子五金元器件造成损伤的优点。
技术领域
本实用新型属于检测技术领域,涉及一种检测探针。
背景技术
探针是电测试的接触媒介,为高端精密型电子五金元器件。现有探针结构一般包括针管、柱塞和弹簧,为了减小探针的长度,有的探针采用一根柱塞结构,即柱塞的端部为下探头,柱塞可伸缩连接在针管的一端,针管的另一端一体成型有上探头,通过此结构减小了探针的长度;但是上述结构的探针由于上探头直接成型在针管上,也就是在上探头检测时没有弹簧来实现缓冲,因此在上探头与电子五金元器件接触时为硬接触,存在上探头接触到电子五金元器件时的作用力太大导致对检测的电子五金元器件造成损坏的情况。
发明内容
本实用新型的目的是针对现有的技术存在上述问题,提出了一种检测探针,本实用新型解决的技术问题是上探头检测时不会对电子五金元器件造成损伤。
本实用新型的目的可通过下列技术方案来实现:
一种检测探针,包括针管、弹簧一和下柱塞,所述弹簧一设置在针管内,所述下柱塞滑动连接在针管的一端且所述弹簧一的一端与下柱塞抵靠,其特征在于,所述针管的另一端套接有上滑套,所述针管的外壁与上滑套的内壁贴靠且上滑套能相对针管滑动,所述上滑套的端部具有上探头,所述针管的另一端端部固定有挡板,所述弹簧一的另一端与挡板抵靠,所述上滑套内设有弹簧二,所述弹簧二的一端与上滑套抵靠,所述弹簧二的另一端与挡板抵靠。
下柱塞通过弹簧一实现伸缩和检测时的缓冲,上探头位于上滑套上,在上探头检测时通过弹簧二实现上探头与电子五金元器件接触时的缓冲,避免了通过上探头检测时对电子五金元器件损伤,通过上滑套与针管贴靠,保证了检测的精度。
在上述的检测探针中,所述针管的外壁上具有呈环形的限位槽,所述限位槽靠近针管连接有上滑套的一端,所述上滑套的端口边沿向内弯折形成环形的限位部,所述限位部伸入限位槽内,上滑套滑动时所述限位部在限位槽内滑动。通过限位部与限位槽的配合能避免上滑套从针管上脱离,同时限位槽的宽度能保证弹簧二的压缩,在上探头接触到电子五金元器件时保证弹簧二被压缩来减小接触的作用力,避免在检测时对电子五金元器件造成损坏。
在上述的检测探针中,所述限位部的端面为限位平面,所述限位部的内侧面为呈锥面的限位面,所述限位槽位于上滑套内侧的槽壁呈锥面的抵靠面,所述限位槽位于上滑套外侧的的槽壁为抵靠平面,在上滑套压缩时所述限位部的限位平面能与抵靠平面抵靠,在所述上滑套回位时所述限位部的限位面能与抵靠面贴靠。通过上述结构能使得限位部与限位槽的槽壁抵靠时贴合平稳,从而使得上滑套不会与针管卡死。
在上述的检测探针中,所述上探头由至少三个棱锥组成,至少三个所述棱锥的尖角以上滑套的轴线为中心呈环形阵列分布。该结构的上探头能实现多点触碰,保证检测精度。
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