[实用新型]一种多孔薄膜的测试工具有效
申请号: | 201820149246.9 | 申请日: | 2018-01-29 |
公开(公告)号: | CN207894450U | 公开(公告)日: | 2018-09-21 |
发明(设计)人: | 程跃;鲍晋珍;方红晨;庄志;陈永乐 | 申请(专利权)人: | 上海恩捷新材料科技股份有限公司 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02;G01R1/04;G01N27/27;G01N27/28 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 201399 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 多孔薄膜 测试工具 有效防止液体 本实用新型 电化学阻抗 离子电导率 测试 闭孔 挥发 麦克 内阻 损害 | ||
本实用新型提供一种多孔薄膜的测试工具,具有结构简单、操作方便、测试结果可靠、效率高;有效防止液体介质的挥发,既保护了环境同时避免对测试人员的损害,而且还可以提高测试结果的可靠性;用于测试多孔薄膜的内阻、电化学阻抗、麦克马伦常数、离子电导率和闭孔温度中的一种或组合,适用范围广的优点。
技术领域
本实用新型属于膜技术和电化学领域,涉及一种多孔薄膜的测试工具。
背景技术
多孔薄膜的闭孔温度直接影响使用多孔薄膜的电化学装置的安全问题,所以准确测试多孔薄膜的闭孔温度成为薄膜和电化学装置企业共同关心的重要课题之一,因此找到可快速、准确的多孔薄膜的闭孔温度的测试方法及其重要。
现有技术中,常常通过对多孔薄膜进行不同温度烘烤后,采用扫描电子显微镜观察处理后的多孔薄膜的微观形貌,以测试多孔薄膜的闭孔温度,该方法虽然直观,但测试周期太长,而且测试结果受取样位置影响较大,准确性不高;在上述方法的基础上,通过测试多孔薄膜的透气值,用以测试多孔薄膜的闭孔温度,该方法相对提高了测试速度,但无法从根本上解决测试结果波动大,一致性不高的问题,因此不具有推广意义;通过测试不同温度下的多孔薄膜的内阻也可以用于测试多孔薄膜的闭孔温度,然而该方法对测试设备的控制要求较高(如温度的一致性及高温下电解液快速挥发),成为研究者难以解决的问题。
另一方面,多孔薄膜的电化学阻抗是影响使用多孔薄膜的电化学装置动力学性能的关键因素之一,与电化学装置的倍率性能、低温性能以及循环性能等都有密切联系,电化学阻抗的测试一直以来都是相关企业和科研单位的关注点。
现有技术中,常常采用扣式电池对多孔薄膜的电化学阻抗进行测试,该方法优点是扣式电池制作简单、测试方便;缺点是扣式电池的制备受人为因素影响较大,如扣式电池制作者的熟练程度直接影响扣式电池的组装效果,而且扣式电池无法对多孔薄膜形成稳定的压力,这些因素都会影响多孔薄膜的电化学阻抗的测试结果。
对于多孔薄膜的上述测试,尚未开发出一种通用的测试工具,能够同时适用于多孔薄膜的闭孔温度和电化学阻抗。
有鉴于此,开发一种可同时适用于测试多孔薄膜的闭孔温度及电化学阻抗并达到操作简单、测试结果可靠、效率高的测试工具实属必要。
实用新型内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本实用新型的目的在于提供一种多孔薄膜的测试工具,用于解决现有技术中测试工具不能同时适用于多种对多孔薄膜的测试需求以及达不到操作简单、测试结果可靠、效率高的问题。
为实现上述目的及其他相关目的,本实用新型提供一种多孔薄膜的测试工具,包括:上模具及与所述上模具相对应的下模具,其中:
所述上模具包含:
导电模头,所述导电模头连接有第一导线;
上绝缘外壳,包覆所述导电模头的上表面及部分所述导电模头的侧面,使得部分的所述导电模头凸出于所述上绝缘外壳;
所述下模具包含:
导电底板,所述导电底板连接有第二导线,所述导电底板的上表面平行于所述导电模头的下表面;
加热件,所述加热件的上表面与所述导电底板的下表面相接;
下绝缘外壳,具有底座及凸出于所述底座的侧壁,所述底座与所述侧壁形成凹槽,所述导电底板及所述加热件位于所述凹槽内;所述导电底板的上表面低于所述下绝缘外壳的侧壁且所述导电底板的侧面与所述下绝缘外壳的侧壁相接;所述加热件的下表面与所述下绝缘外壳的底座相接;
导液槽,与所述导电底板的上表面具有同一平面,贯穿所述下绝缘外壳的侧壁。
优选地,所述导电模头具有光滑的下表面,所述导电底板具有光滑的上表面,以增大所述导电模头、导电底板与待测试多孔薄膜的接触面积。
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