[实用新型]弧度表校准仪有效

专利信息
申请号: 201820234953.8 申请日: 2018-02-09
公开(公告)号: CN207779373U 公开(公告)日: 2018-08-28
发明(设计)人: 陈联荣;黄思航 申请(专利权)人: 厦门精量校准检测技术有限公司
主分类号: G01B21/10 分类号: G01B21/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 361000 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
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【说明书】:

弧度表校准仪设有用于测量的高分辨率数显测微头,安装数显测微头的基准块和紧定螺钉,用于数显测微头调零位的对零块,放置被测弧度表的支撑台,用于压紧被测弧度表的压紧杆和压缩弹簧、压紧座,用于安装基准块、支撑台、压紧块的底板和支撑脚。数显测微头安装于基准块的安装孔内并用紧定螺钉固定,对零块用螺钉安装于基准块上,压缩弹簧套于压紧杆上,压紧杆置于压紧块的通孔内,压紧块、支撑台、基准块用螺钉螺母锁紧于底板上,支撑脚锁于底板的螺孔上。其有益效果是提供了一种校准弧度表示值误差的校准仪器。

技术领域

发明涉及一种半径测量仪器的校准,尤其涉及弧度表的校准。

背景技术

弧度表又称半径规、半径测量仪,广泛应用于内、外弧面半径的测量。按示值显示方式分为指针表盘式和数显式。目前,国家尚未发布关于此类仪表的计量校准规范或计量检定规程,也没有相应的校准其示值误差的仪器。

发明内容

为了填补校准弧度表示值误差的仪器空白,本发明提供了一种可测量弧度表示值误差的校准仪器。

本发明设有用于测量的高分辨率数显测微头,安装数显测微头的基准块和紧定螺钉,用于数显测微头调零位的对零块,放置被测弧度表的支撑台,用于压紧被测弧度表的压紧杆和压缩弹簧、压紧座,用于安装基准块、支撑台、压紧块的底板和支撑脚。数显测微头安装于基准块的安装孔内并用紧定螺钉固定,对零块用螺钉安装于基准块上,压缩弹簧套于压紧杆上,压紧杆置于压紧块的通孔内,压紧块、支撑台、基准块用螺钉螺母锁紧于底板上,支撑脚锁于底板的螺孔上。

本发明解决其技术问题所采用的具体技术方案是:压紧块、支撑台、基准块用螺钉螺母锁紧固定于底板上;支撑脚锁于底板的螺孔上,将底板架空,方便调整支撑台的高度;数显测微头安装于基准块的安装孔内并用紧定螺钉固定,对零块用螺钉安装于基准块上;压缩弹簧套于压紧杆上,压紧杆置于压紧块的通孔内。检测开始前,松开对零块的锁紧螺钉,把对零块转至能盖住基准块上的数显测微头测杆孔后锁紧对零块的锁紧螺钉,转动数显测微头,使其测杆轻微接触对零块的平面,将数显测微头清零,然后将数显测微头的测量杆退回并松开对零块的锁紧螺钉将对零块放回原处,完成数显测微头的对零工作;调整支撑台的高度,使被测弧度表的活动测针与数显测微头的测杆中心高度一致;将被测弧度表置于支撑台上,调整被测弧度表前后位置,使被测弧度表的活动测针对准数显测微头的测杆中心,用压紧杆压紧被测弧度表,使被测弧度表的两个固定测针与基准块的基准面紧贴;转动数显测微头,使其测量杆接触并压缩被测弧度表的活动测针,分别读取不同位置数显测微头和被测弧度表上的数值,通过数据运算处理就可以得到被测弧度表的示值误差。

本发明的有益效果是提供了一种校准弧度表示值误差的校准仪器。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明实施例的应用总体方案主视图。

图2是图1的D-D俯视图。

具体实施方式

图1中,压紧块8、支撑台11、基准块2用螺钉螺母锁紧固定于底板3上;支撑脚7锁于底板3的螺孔上,将底板3架空,方便调整支撑台11的高度;数显测微头1安装于基准块2的安装孔内并用紧定螺钉9固定,对零块10用螺钉安装于基准块2上;压缩弹簧6套于压紧杆5上,压紧杆5穿于压紧块8的通孔内。检测开始前,松开对零块10的锁紧螺钉,把对零块10转至能盖住基准块2上的测杆孔后锁紧对零块10的锁紧螺钉,转动数显测微头1,使其测杆轻微接触对零块10的平面,将数显测微头1清零,然后将数显测微头1的测量杆退回并松开对零块10的锁紧螺钉将对零块10放回原处,完成数显测微头1的对零工作;调整支撑台11的高度,使被测弧度表4的活动测针与数显测微头1的测杆中心高度一致,将被测弧度表4置于支撑台11上;图2中,调整被测弧度表4前后位置,使被测弧度表4的活动测针对准数显测微头1的测杆中心,用压紧杆5压紧被测弧度表4,使被测弧度表4的两个固定测针与基准块2的基准面紧贴;转动数显测微头1,使其测量杆接触并压缩被测弧度表4的活动测针,分别读取不同位置数显测微头1和被测弧度表4上的数值,通过数据运算处理就可以得到被测弧度表4的示值误差。

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