[实用新型]一种硅晶片的清洗工件有效
申请号: | 201820252277.7 | 申请日: | 2018-02-12 |
公开(公告)号: | CN208062027U | 公开(公告)日: | 2018-11-06 |
发明(设计)人: | 陈锡元;朱在峰;田振斌 | 申请(专利权)人: | 扬州伟业创新科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 | 代理人: | 陈娟 |
地址: | 225600 江苏省扬*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硅晶片 吸盘 清洗槽 托板 本实用新型 清洗工件 固定板 固定座 旋转轴 套管 表壁 气泵 清洗槽内部 工件底座 驱动电机 传统的 电机座 连接架 导管 晶片 上套 贴合 冲洗 晃动 清洗 | ||
本实用新型公开了一种硅晶片的清洗工件,包括清洗槽,所述清洗槽底部设置有工件底座,所述清洗槽内部固定有旋转轴,且旋转轴上套接固定有套管,所述清洗槽一侧表壁上固定有固定板,且固定板通过电机座固定有驱动电机,所述清洗槽另一侧表壁上固定有固定座,所述固定座上固定有气泵,且气泵上连接有导管,所述套管通过连接架固定有托板,且托板的顶部固定有吸盘。本实用新型中,采用吸盘吸取硅晶片,将硅晶片固定在托板上,采用吸盘吸取固定,对比于传统的采用晶片框放置硅晶片,使得硅晶片固定更加的稳定,不会出现晃动碰撞,其次,硅晶片通过吸盘吸取固定,使得硅晶片与托板不会相互贴合,使得硅晶片两面均可以受到冲洗,提高其清洗的品质。
技术领域
本实用新型涉及硅晶片加工技术领域,尤其涉及一种硅晶片的清洗工件。
背景技术
元素硅是一种灰色、易碎、四价的非金属化学元素。地壳成分中 27.8%是硅元素构成的,仅次于氧元素含量排行第二,硅是自然界中比较富的元素。在石英、玛瑙、燧石和普通的滩石中就可以发现硅元素。硅晶片又称晶圆片,是由硅锭加工而成的,通过专门的工艺可以在硅晶片上刻蚀出数以百万计的晶体管,被广泛应用于集成电路的制造,硅属于半导体材料,其自身的导电性并不是很好。然而,可以通过添加适当的掺杂剂来精确控制它的电阻率。制造半导体前,必须将硅转换为晶圆片(wafer)。
然而现有的硅晶片的清洗工件在使用过程中存在着一些不足之处,采用晶片框放置硅晶片进行清洗,放置的稳定性较低,硅晶片在接受冲洗的过程中,可能与晶片框发生碰撞损坏,其次清洗工件的结构简单,一般无法调节硅晶片的倾斜角度,使得硅晶片的清洗品质较低,满足不了使用者的需求。
实用新型内容
本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点,而提出的一种硅晶片的清洗工件。
为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:一种硅晶片的清洗工件,包括清洗槽,所述清洗槽底部设置有工件底座,所述清洗槽内部固定有旋转轴,且旋转轴与清洗槽的连接处套接有第一轴承,所述旋转轴上套接固定有套管,所述清洗槽一侧表壁上固定有固定板,且固定板通过电机座固定有驱动电机,所述清洗槽另一侧表壁上固定有固定座,所述固定座上固定有气泵,且气泵上连接有导管,所述套管通过连接架固定有托板,且托板的顶部固定有吸盘,所述清洗槽与旋转轴的连接处焊接有U型架,且U型架与旋转轴的连接处设置有第二轴承。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述套管共设置有三个,且三个套管两两之间间距相等。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述驱动电机通过减速器与旋转轴传动连接。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述驱动电机和气泵关于清洗槽相互对称。
作为上述技术方案的进一步描述:
所述气泵通过导管与吸盘相互导通连接。
本实用新型中,首先采用吸盘吸取硅晶片,将硅晶片固定在托板上,采用吸盘吸取固定,对比于传统的采用晶片框放置硅晶片,使得硅晶片固定更加的稳定,不会出现晃动碰撞,其次,硅晶片通过吸盘吸取固定,使得硅晶片与托板不会相互贴合,使得硅晶片两面均可以受到冲洗,提高其清洗的品质,再有托板设置在清洗槽内的横向旋转轴上,通过驱动电机带动旋转轴转动,可以改变托板上固定的硅晶板的倾斜角度,便于其更好的接受喷洗,改变驱动电机的转速,还可以对硅晶片进行甩干,节约了干燥的时间。
附图说明
图1为本实用新型提出的一种硅晶片的清洗工件的结构示意图;
图2为本实用新型托板的结构示意图;
图3为本实用新型U型架的结构示意图。
图例说明:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造