[实用新型]PCB板耐电压测试治具

说明书

本实用新型属于PCB板测试设备技术领域，尤其涉及一种PCB板耐电压测试治具，包括测试套架、若干第一测试针和若干第二测试针组，测试套架内开设有若干装配腔，装配腔内设有磁芯套件，各第一测试针、各第二测试针组和各磁芯套件一一对应设置，各第二测试针组均包括若干第二测试针，第一测试针插设入装配腔中以与磁芯套件电性连接，各第一测试针串联连接，各第二测试针均插设入装配腔中以分别与待测PCB板的各测试部电性连接，与各待测PCB板的相同测试部电性连接的各第二测试针串联连接，这样仅需制造一套测试架，便实现了对待测PCB板的不同测试部的耐高电压测试，进而显著提升了PCB板的测试效率，同时也显著降低了PCB板的测试成本。

技术领域

本实用新型属于PCB板测试设备技术领域，尤其涉及一种PCB板耐电压测试治具。

背景技术

PCB板在出厂前需要经过严格的可靠性测试，尤其是耐电压测试，耐电压测试包括内层间耐电压、线与线之间耐电压、线与焊盘之间耐电压测试和板与外部磁芯之间耐电压测试。

现有技术中，PCB板的耐电压测试包括手动测试、夹笔测试和单个PCS(测试针)测试，在测试过程中，需要对各个测试项目逐一进行测试，例如同一个产品有N个测试项目，那么就需要制作N个测试架进行测试，故而导致PCB板的测试效率低下，测试成本高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种PCB板耐电压测试治具，旨在解决现有技术中PCB板的测试效率低下，测试成本高的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种PCB板耐电压测试治具，包括测试套架、若干第一测试针和若干第二测试针组，所述测试套架内开设有若干装配腔，所述装配腔内设有用于夹持待测PCB板的磁芯套件，各所述第一测试针、各所述第二测试针组和各所述磁芯套件一一对应设置，各所述第二测试针组均包括若干第二测试针，各所述第一测试针均插设入所述装配腔中以与所述磁芯套件电性连接，各所述第一测试针串联连接，各所述第二测试针均插设入所述装配腔中以分别与所述待测PCB板露出于所述磁芯套件外的各测试部电性连接，与各所述待测PCB板的相同测试部电性连接的各所述第二测试针串联连接。

进一步地，所述测试套架包括第一模架和第二模架，所述第一模架盖设于所述第二模架上，所述第一模架开设有若干第一装配半腔、所述第二模架开设有若干第二装配半腔，各所述第一装配半腔和各第二装配半腔一一对应并相互组合形成所述装配腔，所述第一测试针穿过所述第一模架并进入所述第一装配半腔中以与所述磁芯套件电性连接，各所述第二测试针均穿过所述第一模架并进入所述第二装配半腔中以分别与所述待测PCB板露出于所述磁芯套件外的各测试部电性连接。

进一步地，所述第二装配半腔的相对两内壁朝向背离彼此的方向凹陷形成有用于容置各所述测试部的两安装槽，两所述安装槽均开设有若干连接孔，各所述连接孔与各所述测试部一一对应设置，各所述第二测试针分别插设入各所述连接孔以与各所述测试部电性连接。

进一步地，所述第一模架和所述第二模架均由耐燃等级为FR-4的环氧玻璃布层压板制得。

进一步地，所述磁芯套件包括磁芯座和磁芯盖，所述磁芯座嵌设于所述第二装配半腔中并开设有用于容置所述待测PCB板的容置腔，所述容置腔内固定安装有用于穿过所述待测PCB板的磁芯孔的磁柱，所述容置腔的两侧与两所述安装槽相贯通以使得所述待测PCB板两端的各测试部伸入到两所述安装槽中，所述磁芯盖嵌设于所述第一装配半腔中并盖设于所述容置腔朝向所述第一模架的开口处，且所述磁芯盖与所述磁柱相抵接，所述第一测试针穿过所述第一模架并与所述磁芯盖相抵接。

进一步地，所述磁芯盖通过双面胶粘设于所述第一装配半腔中。

进一步地，所述第二装配半腔的底部设有缓冲垫，所述磁芯座的下端抵接于所述缓冲垫。

进一步地，所述缓冲垫为海绵垫。