[实用新型]高检测精度的汞检测仪有效

专利信息
申请号: 201820347229.6 申请日: 2018-03-14
公开(公告)号: CN208297349U 公开(公告)日: 2018-12-28
发明(设计)人: 田莉娟;邵涛;胡江波;许福斌 申请(专利权)人: 北京普立泰科仪器有限公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01N21/01
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 徐宁;孙楠
地址: 100095 北京市海淀区温*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 流通池 杂散光吸收 紫外光光源 汞灯 气样 聚焦透镜 荧光检测装置 检测 本实用新型 灯罩 高低调节 汞检测 汞原子 底座 系统控制电路 笔形汞灯 类化合物 装置设置 紫外光 入射光 荧光 汞气 照射 聚焦 激发 应用
【权利要求书】:

1.一种高检测精度的汞检测仪,其包括紫外光光源系统,设置在所述紫外光光源系统入射光路上的聚焦透镜和气样流通池,设置在所述气样流通池上方的荧光检测装置以及系统控制电路,所述紫外光光源系统包括汞灯高低调节底座,设置在所述汞灯高低调节底座上的汞灯灯罩以及设置在所述汞灯灯罩内的笔形汞灯,其特征在于:其还包括一杂散光吸收装置,所述杂散光吸收装置设置在所述聚焦透镜和气样流通池之间;所述紫外光光源系统发出的紫外光经所述聚焦透镜进行聚焦后,进入所述杂散光吸收装置进行杂散光吸收,之后对进入所述气样流通池内的含汞气样流进行照射,所述气样流通池内汞原子被激发出的荧光由所述荧光检测装置检测,得到气样流中汞原子浓度。

2.如权利要求1所述的高检测精度的汞检测仪,其特征在于:所述杂散光吸收装置包括上光路和下光路;所述上光路和下光路竖向相对设置在所述聚焦透镜和气样流通池之间,且所述上光路的内壁间隔设置有上部反射光吸收层、所述下光路内壁上设置有与所述上部反射光吸收层位置一一对应的下部反射光吸收层;所述上部反射光吸收层与所述下部反射光吸收层中间预留有主光路通道,使得所述上光路与所述下光路之间构成一条齿型带。

3.如权利要求2所述的高检测精度的汞检测仪,其特征在于:所述杂散光吸收装置中,所述上光路和下光路的长度为45mm,所述上、下部反射光吸收层各七条,两两所述反射光吸收层之间的间距为7.5mm,每一所述反射光吸收层厚度1.5mm,高度28mm。

4.如权利要求1所述的高检测精度的汞检测仪,其特征在于:所述汞检测仪还包括一光强稳定装置,所述光强稳定装置包括分光反馈模块和温度反馈模块;

所述分光反馈模块设置在所述杂散光吸收装置内部,用于对紫外光光源系统发出的紫外光进行反射并形成光电反馈信号发送到所述系统控制电路,由所述系统控制电路对光强稳定性进行控制;所述温度反馈模块设置在所述紫外光光源系统的汞灯灯罩上,用于对所述汞灯灯罩进行加热,并实时采集所述汞灯灯罩的温度信号发送到所述系统控制电路,由所述系统控制电路对光源温度进行控制。

5.如权利要求4所述的高检测精度的汞检测仪,其特征在于:所述光强稳定装置包括分光镜、滤光片、光电反馈模块和EOM支架;所述EOM支架设置在所述杂散光吸收装置内部前端,所述滤光片设置在所述EOM支架上端,用于对所述经聚焦透镜聚焦后的紫外光进行滤光,滤除254mm波长以外的紫外光;所述分光镜与所述EOM支架相对设置,用于对滤光后的紫外光进行反射,将2%的紫外光反射到所述光电反馈模块,其余的紫外光进入后续光路;所述光电反馈模块设置在所述EOM支架上,用于将所述分光镜反射的光转换为电信号并发送到所述系统控制电路;所述系统控制电路根据所述电信号生成负反馈信号对所述紫外光光源系统的光强稳定性进行控制。

6.如权利要求4所述的高检测精度的汞检测仪,其特征在于:所述温度反馈模块包括温度反馈模块壳体、两加热功率管和一热电偶温度传感器,两所述加热功率管分别设置在所述温度反馈模块壳体下部,用于对所述汞灯灯罩进行加热;所述热电偶温度传感器设置在两所述加热功率管之间,用于实时检测所述汞灯灯罩的温度,并将采集的温度信号发送到所述系统控制电路,所述系统控制电路根据所述温度信号生成负反馈信号对两所述加热功率管进行控制,保证所述紫外光光源系统的温度在预设温度范围内。

7.如权利要求1所述的高检测精度的汞检测仪,其特征在于:所述汞检测仪还包括一反射镜,所述反射镜设置在所述气样流通池下方,用于将所述气样流通池内汞原子被激发产生的向下的254nm原子荧光直接反射到外部。

8.如权利要求7所述的高检测精度的汞检测仪,其特征在于:所述反射镜与所述入射光路形成45°角。

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