[实用新型]一种测试治具

说明书

本实用新型涉及一种测试治具，包括上连接板、上连接杆、上模座、下连接板、下连接杆、下模座、测试上模和测试下模，所述上模座上设有导向柱，所述下模座上对应设有导套，所述测试上模固定在上模座下方，所述测试下模设置在下模座上方，所述测试下模包括基板和多个柔性夹具组件，所述基板上阵列设有多个螺钉孔，所述柔性夹具组件通过螺钉固定在基板上。所述基板上阵列设有多个螺钉孔，所述柔性夹具组件通过螺钉固定在基板上，柔性夹具组件可以自由地固定在基板上，非常适合固定产品的外缘、定位孔等结构，尤其适合固定PCB板类的平板状产品，同一套测试下模可以解决很多产品的定位问题，通用程度高，可以为企业节约开支。

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试治具。

背景技术

电子类产品和配件在组装完成后，需要对该产品做一个功能性的测试。测试装置一般包括测试上位机和测试治具，测试治具用于固定产品和实现测试部位的电连接，一般包括固定架、测试上模和测试下模，但是产品种类繁多，每个产品都需要设计不同的测试上模和测试下模，这对企业来讲是一种负担，而且测试上模和测试下模种类太多，也不利于物料管理，易造成混乱。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种适应性好，通用程度较高的测试治具。

本实用新型是这样实现的：一种测试治具，包括上连接板、上连接杆、上模座、下连接板、下连接杆、下模座、测试上模和测试下模，所述上连接板和上模座通过上连接杆固定连接，所述下连接板和下模座通过下连接杆固定连接，所述上模座上设有导向柱，所述下模座上对应设有导套，所述测试上模固定在上模座下方，所述测试下模设置在下模座上方，所述测试下模包括基板和多个柔性夹具组件，所述基板上阵列设有多个螺钉孔，所述柔性夹具组件通过螺钉固定在基板上。

其中，所述柔性夹具组件包括柱式夹具，所述柱式夹具包括立柱和基座，所述立柱设置在基座上，整体呈L形，所述立柱顶端设有台阶形成阶梯轴，所述基座上设有螺钉孔。

其中，所述基座上的螺钉孔为腰形孔。

其中，所述柔性夹具组件包括板式夹具，所述板式夹具包括平板、立柱和基座，所述立柱设置在基座上，所述平板设置在立柱顶端。

其中，所述平板尺寸为10mm*10mm。

其中，所述基板上螺钉孔间距为10mm*10mm。

其中，所述测试上模包括支架、多条条状的探针座、多个测试探针，所述支架侧面设有长条形通孔，探针座两端通过螺钉固定在所述通孔处，所述探针座上设有通槽，通槽侧面设有通孔，所述测试探针成排地设置在所述通槽内，并被侧面的螺钉紧固在探针座上。

本实用新型的有益效果为：所述测试治具的测试下模包括基板和多个柔性夹具组件，所述基板上阵列设有多个螺钉孔，所述柔性夹具组件通过螺钉固定在基板上，柔性夹具组件可以自由地固定在基板上，非常适合固定产品的外缘、定位孔等结构，尤其适合固定PCB板类的平板状产品，同一套测试下模可以解决很多产品的定位问题，通用程度高，可以为企业节约开支。

附图说明

图1是本实用新型所述测试治具实施例的结构示意图；

图2是本实用新型所述测试下模的结构示意图；

图3是本实用新型所述测试上模的结构示意图。

其中，1、上连接板；2、上连接杆；3、上模座；4、下连接板；5、下连接杆；6、下模座；7、测试上模；71、支架；711、通孔；72、探针座；721、通槽；722、通孔；73、测试探针；8、测试下模；81、基板；82、螺钉孔；83、柱式夹具；831、立柱；832、基座；84、板式夹具；841、平板；842、立柱；843、基座；9、导向柱；10、导套；11、螺钉。

具体实施方式