[实用新型]双面测试装置及系统有效
| 申请号： | 201820360483.X | 申请日： | 2018-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN207925435U | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 曲健 | 申请（专利权）人： | 北京德雷射科光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;F21S8/00;F21V3/02;F21V7/05;F21V23/04;F21V33/00 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 郭新娟 |
| 地址： | 100000 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 探针排 铜排 腔体 光源 灯罩 灯罩外部 双面测试 电池片 装置及系统 光线照射 反射板 玻璃 本实用新型 双面电池片 测试 灯罩内部 发射光线 光源发射 腔体内壁 硬件测试 有效测试 反射光 聚拢 反射 | ||
1.一种双面测试装置，其特征在于，包括：灯罩和位于所述灯罩外部的腔体，所述腔体内壁设置有用于反射光的反射板，所述腔体和所述灯罩之间设置有玻璃；
所述灯罩内部设置有光源，所述光源和所述玻璃之间设置有探针排和铜排，所述探针排靠近所述光源，所述铜排靠近所述玻璃；
所述探针排和所述铜排之间设置有电池片。
2.根据权利要求1所述的双面测试装置，其特征在于，所述玻璃为石英玻璃。
3.根据权利要求2所述的双面测试装置，其特征在于，在远离所述光源的发光面背侧设置有开关按钮。
4.根据权利要求1所述的双面测试装置，其特征在于，所述灯罩的侧壁上开置有开口。
5.根据权利要求4所述的双面测试装置，其特征在于，所述开口的直径大于所述探针排和所述铜排层叠的高度。
6.根据权利要求5所述的双面测试装置，其特征在于，所述开口上设置有锁紧件，所述锁紧件用来在所述开口被关闭时，使所述开口与所述灯罩贴合。
7.根据权利要求6所述的双面测试装置，其特征在于，所述光源的发光面背侧还设置有光线调节器，所述光线调节器用来在被触发时改变光线的强度。
8.根据权利要求7所述的双面测试装置，其特征在于，所述光源发光面的背侧还设置有报警器，所述报警器与所述光线调节器相连，所述报警器用来在所述光线调节器无法改变光线的强度时，向外发出声光报警。
9.根据权利要求4所述的双面测试装置，其特征在于，所述灯罩呈圆柱体状。
10.双面测试系统，其特征在于，包括：监视器和如权利要求1-9任一项所述的双面测试装置；
所述监视器和所述双面测试装置相连；
所述监视器监视所述双面测试装置的工作状态。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
