[实用新型]一种精密元器件测试盘的加工平台

权利要求书

1.一种精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，包括底座，所述底座表面设置有工作台，所述工作台通过螺纹与所述底座固定连接；

所述工作台表面的中心设置有一中心孔，所述中心孔的外侧设有多个用于真空吸的真空吸槽，多个所述真空吸槽以所述中心孔的中心为轴心依次向中心孔的外侧排列；

所述真空吸槽内设置有多个真空吸孔，所述真空吸孔以所述中心孔的中心为轴心呈圆周排列；

所述工作台的内部设置有多个用于导向真空吸气体的导流槽，所述导流槽的位置与所述真空吸槽的位置对应分布且通过所述真空吸孔与所述真空吸槽连接。

2.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述真空吸槽的形状为圆形或者弧形且以所述中心孔的中心为轴心依次向外侧呈7层分布。

3.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述导流槽为圆弧形且与所述真空吸槽对应分布。

4.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述中心孔与所述真空吸槽之间设置有4个用于固定测试盘的第一固定螺孔，所述第一固定螺孔沿所述中心孔的轴心呈圆周排列。

5.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述中心孔与所述真空吸槽之间还设置有4个用于测试盘定位的定位销孔，所述定位销孔沿所述中心孔的轴心呈圆周排列。

6.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述真空吸槽的外侧设置有8个用于固定测试盘的第二固定螺孔，所述第二固定螺孔沿所述中心孔的轴心呈圆周排列。

7.根据权利要求6所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述第二固定螺孔与中心孔之间排列设置有多个用于加工测试盘的加工槽口和加工孔，所述加工槽口和加工孔与所述中心孔同轴心且与测试盘对应分布。

8.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述工作台的边缘设置有4个用于固定工作台的第三固定螺孔，所述第三固定螺孔与所述工作台的周边平行且呈正方形排列。

9.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述工作台的表面结构设置为对称结构。

10.根据权利要求1所述的精密元器件测试盘的加工平台，其特征在于，所述工作台至少为加工两种测试盘的工作台。