[实用新型]一种单片硅基微压传感器有效
申请号: | 201820366252.X | 申请日: | 2018-03-16 |
公开(公告)号: | CN207991720U | 公开(公告)日: | 2018-10-19 |
发明(设计)人: | 沈绍群;罗小勇;阮炳权 | 申请(专利权)人: | 广东和宇传感器有限公司;上海旦宇传感器科技有限公司 |
主分类号: | G01L1/22 | 分类号: | G01L1/22 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 梁嘉琦 |
地址: | 529100 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 背岛 硅基片 终止结构 弹性硅 微压传感器 单片硅基 腐蚀坑 腐蚀 硅片 本实用新型 二氧化硅层 厚度一致性 玻璃键合 厚度限制 器件失效 稳定测量 一致性好 灵敏度 产出率 键合 灵活 | ||
1.一种单片硅基微压传感器,其特征在于:包括硅片主体,所述硅片主体包括相互键合于一起的硅基片(1)和弹性硅膜(2),所述硅基片(1)和弹性硅膜(2)之间设置有第一二氧化硅层(3),所述硅基片(1)之中设置有腐蚀坑(4),所述腐蚀坑(4)之中设置有背岛结构,所述背岛结构包括用于稳定测量的背岛(5)和包裹所述背岛(5)设置的腐蚀自终止结构。
2.根据权利要求1所述的一种单片硅基微压传感器,其特征在于:所述腐蚀自终止结构包括第二二氧化硅层(6)和所述的第一二氧化硅层(3),所述背岛(5)设置于所述第一二氧化硅层(3)之上并被所述第一二氧化硅层(3)和第二二氧化硅层(6)所包裹。
3.根据权利要求1所述的一种单片硅基微压传感器,其特征在于:所述硅基片(1)于所述腐蚀坑(4)表面之外的表面处,以及所述弹性硅膜(2)的表面处,均设置有二氧化硅保护膜(7)。
4.根据权利要求3所述的一种单片硅基微压传感器,其特征在于:所述弹性硅膜(2)的表面处还设置有惠斯通电桥。
5.根据权利要求4所述的一种单片硅基微压传感器,其特征在于:所述惠斯通电桥包括4个桥路电阻和从所述桥路电阻中引出的铝引线。
6.根据权利要求5所述的一种单片硅基微压传感器,其特征在于:所述桥路电阻设置于所述弹性硅膜(2)之中,并与所述铝引线分别设置于所述二氧化硅保护膜(7)的两侧。
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