[实用新型]一种光学元件在线检测装置有效
申请号: | 201820367720.5 | 申请日: | 2018-03-19 |
公开(公告)号: | CN208059804U | 公开(公告)日: | 2018-11-06 |
发明(设计)人: | 王帅 | 申请(专利权)人: | 武汉美加壹投资咨询有限责任公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 430000 湖北省武汉市武昌区*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 承托板 光学元件 底板 在线检测装置 固定悬臂 调节杆 滑动臂 滑动槽 滑动杆 滑动套 透明罩 旋转套 光学元件检测 本实用新型 白色薄膜 底板表面 滑动杆沿 判断元件 在线装置 支撑底座 中部位置 滑动 放置孔 三棱镜 三棱柱 色散光 共轴 铰接 色散 轴向 光源 穿过 检测 覆盖 观察 | ||
本实用新型一种光学元件在线检测装置公开了一种通过三棱柱进行光的色散使得光学穿过光学元件,通过对色散光进行观察判断元件各处厚度的检测在线装置,能够提高光学元件检测效率,其特征在于透明罩一端套置于底板上,且和底板组合形成箱体,所述底板表面附有一层白色薄膜,承托板覆盖置于透明罩另一端上,支撑底座置于承托板中部位置,旋转套置于承托板上,且和承托板共轴,承托板上周向开有多个放置孔,滑动杆一端套置于旋转套内,所述滑动杆沿轴向开有滑动槽,滑动套套置于滑动杆上,滑动臂置于滑动套上,且对应置于滑动槽内,光源置于滑动臂上,调节杆一端置于滑动套一侧,固定悬臂一端铰接置于调节杆另一端上,三棱镜置于固定悬臂上。
技术领域
本实用新型一种光学元件在线检测装置,涉及一种在进行光学元件加工时,对加工完成的光学元件进行厚度检测的装置,属于光学检测领域。特别涉及一种通过三棱柱进行光的色散使得光学穿过光学元件,通过对色散光进行观察判断元件各处厚度的检测在线装置。
背景技术
目前,在进行光学元件制造时,需要对光学元件进行检测,光学元件的镜片厚度要求对光的传递影响较大,光学元件在加工抛磨时,厚度的控制要求较高,现有的对厚度的检测分为接触式和非接触式的,接触式的采用千分尺等工具进行多点测量,接触式的检测需要和光学元件表面贴合接触,会导致元件表面划伤,影响光学元件表面质量,且采点范围有限,不能进行全面的厚度检测,且检测速度慢,而非接触的测量方法,通过成像法和激光扫描法,系统结构比较复杂,造成误差来源较多,测量速度较慢,难以有效提高测量质量。
公开号CN205561770U高公开了透镜厚度检测装置。透镜厚度检测装置,包括基座、探测头、待测台、检测器,探测头和待测台安装在基座上,待测台设于探测头正下方,探测头连接检测器,探测头包括光源,光源设于探测头上方,基座包括焦距调节装置,焦距调节装置连接探测头,光源通过探测头聚焦并将光照射在待测台上的待测镜片上,通过检测镜片的折射反射光的参数,计算并确定镜片厚度,该装置系统结构复杂,检测数据有限,不能直接发现厚度误差点。
发明内容
为了改善上述情况,本实用新型一种光学元件在线检测装置提供了一种通过三棱柱进行光的色散使得光学穿过光学元件,通过对色散光进行观察判断元件各处厚度的检测在线装置。
本实用新型一种光学元件在线检测装置是这样实现的:本实用新型一种光学元件在线检测装置由滑动杆、支撑底座、透明罩、底板、承托板、元件放置孔、旋转套、固定悬臂、三棱镜、调节杆、光源、滑动臂、滑动套和滑动槽组成,透明罩一端套置于底板上,且和底板组合形成箱体,所述底板表面附有一层白色薄膜,承托板覆盖置于透明罩另一端上,支撑底座置于承托板中部位置,旋转套置于承托板上,且和承托板共轴,承托板上周向开有多个放置孔,滑动杆一端套置于旋转套内,所述滑动杆沿轴向开有滑动槽,滑动套套置于滑动杆上,滑动臂置于滑动套上,且对应置于滑动槽内,光源置于滑动臂上,调节杆一端置于滑动套一侧,所述调节杆能够周向旋转,固定悬臂一端铰接置于调节杆另一端上,三棱镜置于固定悬臂上。
使用时,将光学元件对应放置在放置孔内,调节三棱镜的位置,使得三棱镜倾斜,然后开启光源,光源的白光通过三棱镜进行色散,然后色散的光线平铺在承托板上,使得光学元件被色散光线覆盖,并穿过光学元件,投射在底板上,通过调节滑动套的高度,调节色散光线在光学元件上的覆盖密度,以及覆盖在光学元件上的光带宽度,色散光线通过光学元件在底板上形成圆形光斑,通过观察光斑上的光带宽度变化,来判断光学元件的厚薄,当光学元件厚度变化时,光学的折射角发生变化,使得较厚位置的入射角和折射角的偏移较小,使得对应位置的光带宽度略窄于其他地方,当光学元件厚度较薄时,入射角和折射角的偏移较大,在底板上的对应光带宽度略大于其他位置,通过观察光带的变化来判断厚薄差异点,通过旋转导向杆使得光源和三菱镜,将色散光学逐步的对多个光学元件进行扫掠,对多个光学元件进行检测,所述透明罩的设计能够对外部尘源进行隔档,避免影响光线投射,达到对光学元件厚度进行检测的目的。
有益效果。
一、结构简单,方便实用。
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