[实用新型]一种LED灯条的便捷检测设备有效
申请号: | 201820405498.3 | 申请日: | 2018-03-23 |
公开(公告)号: | CN208256621U | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 李元明;李元坚;黄德华 | 申请(专利权)人: | 龙岩德煜照明有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 福州君诚知识产权代理有限公司 35211 | 代理人: | 戴雨君 |
地址: | 364000 福建省龙岩市龙岩*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 底板 接触电极 电极孔 检测 滑轨 滑块 本实用新型 电源开关 负极端子 检测设备 正极端子 支架夹板 夹片 竖直固定 电连接 推拉件 引出线 滑动 夹持 两边 驱动 | ||
本实用新型公开一种LED灯条的便捷检测设备,其包括LED支架和检测底板,检测底板上固定有电源开关,检测底板上竖直固定有支架夹板,支架夹板由两块夹片构成,LED支架夹持于两块夹片之间,LED支架的两边分别设有正极端子和负极端子,LED支架上设有电极孔,检测底板上设有滑轨,滑轨上滑动设有滑块,滑块对应LED支架的一端两侧分别设有与电极孔的一接触电极,当两个接触电极分别插置于电极孔内时分别与正极端子和负极端子电连接,电源开关的引出线分别与一接触电极对应连接,滑块由一推拉件驱动沿滑轨来回运动。本实用新型结构简单,适用于大规模快速的LED灯条检测,市场前景广阔。
技术领域
本实用新型涉及光电设备领域,尤其涉及一种LED灯条的便捷检测设备。
背景技术
随着LED灯以及LED背光模组得到广泛的应用,消费者对 LED灯以及液晶模组或LED背光模组的品质要求越来越高,这 就要求在LED灯条的制作工程中对其进行光学和电性检测,以 确保LED灯条的品质。一般的针对LED灯条进行检测的设备只 能单独地进行电性检测或单独的光学检测,LED灯条测试一般都是人工插电再用目检的方式观察LED灯的亮灭、亮 暗、色偏等问题,其检测速度慢且分辨能力差,同时高亮的LED灯对人眼伤 害大。
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种LED灯条的便捷检测设备。
本实用新型采用的技术方案是:
一种LED灯条的便捷检测设备,其包括LED支架和检测底板,检测底板上固定有电源开关,检测底板上竖直固定有支架夹板,支架夹板由两块夹片构成,LED支架夹持于两块夹片之间,LED支架的两边分别设有正极端子和负极端子, LED支架上设有电极孔,检测底板上设有滑轨,滑轨上滑动设有滑块,滑块对应LED支架的一端两侧分别设有与电极孔的一接触电极,当两个接触电极分别插置于电极孔内时分别与正极端子和负极端子电连接,电源开关的引出线分别与一接触电极对应连接,滑块由一推拉件驱动沿滑轨来回运动。
进一步地,推拉件包括连杆、推拉手柄,推拉手柄的底部与检测底板转动连接,连杆的一端与滑块固定连接,连杆的另一端可拆卸设有连接环,推拉手柄对应连接环设有轨道槽,连接环可拆卸套设在轨道槽内,连接环沿轨道槽来回运动时带动连杆沿滑轨方向来回运动。
进一步地,检测底板上设有支撑座,连杆另一端穿过支撑座上的通孔与推拉手柄连接。
进一步地,多条LED灯条平行且同向设于LED支架上。
进一步地,检测底板的一侧设有电源开关。
进一步地,接触电极通过一绝缘块固定于滑块上。
进一步地,检测底板上还有设有挡板,挡板用于当接触电极插置于电极孔时对LED支架的限位固定,挡板相对支架夹板设置,支架夹板和挡板分别位于LED支架的两侧。
本实用新型采用以上技术方案,在检测底板上竖直设置夹持LED支架的支架夹板,配合另设的挡块,实现LED支架的快速装卸与替换;此外在沿滑轨滑动的滑块上分别是有与电源正负极连接的两个接触电极,进行检测时,滑块在推拉件的驱动下靠近LED支架,进而接触电极与LED支架的电极孔接触并电连接,测试人员再开启电源开关即可检测LED支架上的led灯条是否正常通电发光;检测完毕后,关闭电源开关并在推拉件的驱动下滑块远离LED支架,是的接触电极离开电极孔断开连接,测试人员可进一步更换LED支架进行下次检测。本实用新型结构简单,适用于大规模快速的LED灯条检测,市场前景广阔。
附图说明
以下结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步详细说明;
图1为本实用新型一种LED灯条的便捷检测设备的检测底板的结构示意图;
图2为本实用新型一种LED灯条的便捷检测设备的LED支架的结构示意图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造