[实用新型]一种简易的高精度的射频测试系统有效
| 申请号： | 201820408365.1 | 申请日： | 2018-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN208314133U | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 谢利超;李嘉鹏;蔡元宏 | 申请（专利权）人： | 瑞兴恒方网络（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H04B17/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试底板 测试治具 待测设备 射频测试系统 本实用新型 简易 射频衰减器 自动化测试 输出 测试电路 测试数据 测试系统 开关连接 射频测试 射频输入 主控MCU 路射频 射频口 通讯口 产线 分时 加载 链路 射频 生产 便利 记录 | ||
1.一种简易的高精度的射频测试系统，包括:测试底板、测试治具、主控MCU、UART通讯口、LoRa模块、射频衰减器和待测设备；
所述测试底板可以实现测试电路控制和测试数据的记录；所述测试底板主控MCU通过UART通讯口控制待测设备和LoRa模块；
所述UART通讯口的GPIO Bus Switch采用八个FET bus switch，八个FETbus switch的输出汇总连接到主控MCU；每个FET bus switch可以分别控制与使用，实现待测设备的分时控制；
所述测试治具用来固定待测设备和测试底板的精确连接；所述测试底板安装在测试治具内；
所述LoRa模块承担本测试系统射频测试任务。
2.根据权利要求1所述的一种简易的高精度的射频测试系统，其特征在于，所述射频测试系统支持八个PCBA待测设备的测试。
3.根据权利要求1所述的一种简易的高精度的射频测试系统，其特征在于，所述LoRa模块上设有射频口，所述射频口上设有一个八路射频开关。
4.根据权利要求2所述的一种简易的高精度的射频测试系统，其特征在于，所述八个PCBA待测设备分时工作。
5.根据权利要求1所述的一种简易的高精度的射频测试系统，其特征在于，所述待测设备和LoRa模块都是带LoRa收发的设备，通过主控MCU控制参数，使他们工作在相同的频率，相同的射频参数，收发同步。
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