[实用新型]一种可检测不同温度下电阻率的四探针电阻仪

说明书

一种可检测不同温度下电阻率的四探针电阻仪，主要包括连杆，样品台，探针，调节旋钮Ⅰ，调节旋钮Ⅱ，探针臂，控温盒，导线，温度显示屏，电源，底座，活动栓，热电偶，四探针孔，温度感应器，试样；通过控温盒和热电偶的结合，使得被检测的试样可以处于不同的温度下进行电阻率的测量。解决了实际应用时，因薄膜温度的不同造成半导体薄膜的电阻率和实际情况存在一定偏差，无法检测不同温度下的电阻率的问题，使得实验结果能更好的应用于实际生活中。

技术领域

本实用新型涉及测量不同温度下半导体薄膜电阻率的实验设备，主要涉及一种可检测不同温度下电阻率的四探针电阻仪。

背景技术

四探针电阻仪的工作原理是用四个等距的金属探针接触半导体薄膜表面，外边的两令探针通直流电流I，中间两个探针之间的电压降V由电位差计测量，由所测得的电流I和电压V，利用关于样品和探针几何结构的适当校正因子，可以直接换算成薄层电阻。半导体薄膜一般应用在光伏技术、电解水、电化学照相、电子及微电子工业中，其中主要应用于太阳能电池的吸收层，用来吸收太阳光从而在内部形成电流。但传统的四探针电阻仪只能检测常温时半导体薄膜的电阻率，实际应用时，由于不同时段的太阳光的照射会使得薄膜的温度有所不同，这样测得的半导体薄膜的电阻率和实际情况存在一定偏差，无法检测不同温度下的电阻率，从而在实际应用时造成局限性。

发明内容

一种可检测不同温度下电阻率的四探针电阻仪，主要包括连杆，样品台，探针，调节旋钮Ⅰ，调节旋钮Ⅱ，探针臂，控温盒，导线，温度显示屏，电源，底座，活动栓，热电偶，四探针孔，温度感应器，试样；其主要特征在于：连杆与底座固定连接；样品台和底座通过连杆固定连接；控温盒通过活动栓安装在样品台的中央，控温盒采用保温材料制成；控温盒内部左右两侧设置有热电偶；热电偶与电源通过导线相连接；控温盒内部上方安装有温度感应器；温度感应器与温度显示屏通过导线相连接；温度显示屏与电源通过导线相连接；试样放置在控温盒内；控温盒上方设置有四个四探针孔，分别与上方的四个探针位置相对应；探针安装在探针臂上；探针臂上设置有调节旋钮Ⅰ和调节旋钮Ⅱ。

工作时，通过活动栓打开控温盒，将试样放置在控温盒内，调整所需要的位置，盖上控温盒，准备试验。打开四探针电阻仪开关，通过调节调节旋钮Ⅱ控制探针臂向下移动至探针臂接近四探针孔，再调节调节旋钮Ⅰ使探针从四探针孔进入控温盒内，直至接触试样并对试样施加一定的压力。打开电源，热电偶开始工作，对控温盒内进行加温，温度感应器随时监测控温盒内的温度并显示在温度显示屏上，当温度显示屏显示的温度达到需要的测试温度时，关闭电源，开始对特定温度下的半导体薄膜进行电阻率测试。打开四探针电阻仪开关进行测试。

一种可检测不同温度下电阻率的四探针电阻仪，本实用新型中通过控温盒和热电偶的结合，使得被检测的试样可以处于不同的温度下进行电阻率的测量。解决了实际应用时，因薄膜温度的不同造成半导体薄膜的电阻率和实际情况存在一定偏差，无法检测不同温度下的电阻率的问题，使得实验结果能更好的应用于实际生活中。

附图说明：

图1是一种可检测不同温度下电阻率的四探针电阻仪的主视图；

图2是一种可检测不同温度下电阻率的四探针电阻仪的局部视图。

图中1是连杆，2是样品台,3是探针，4是调节旋钮Ⅰ，5是调节旋钮Ⅱ，6是探针臂，7是控温盒，8是导线，9是温度显示屏，10是电源，11是底座，12是活动栓，13是热电偶，14是四探针孔，15是温度感应器，16是试样。

具体实施方式：