[实用新型]一种全自动芯片进样装置

说明书

一种全自动芯片进样装置，包括处理器、上试剂槽、进样口、入槽口、下试剂槽、电源、注射控制器、显示屏，所述入槽口设置在进样口右侧，所述上试剂槽安装在入槽口的上部，所述下试剂槽安装在入槽口的下部，所述试剂槽与下试剂槽之间设有隔板，所述电源设置在上试剂槽与下试剂槽的右侧，所述上试剂槽上部安装有命令输入器，所述显示屏设置在命令输入器的右侧，所述处理器设置在命令输入器的下部，所述注射控制器设置在显示屏的下部。该种全自动芯片进样装置结构简单，功能实用，能完全满足现有人们对芯片进样装置的需求。

技术领域

本实用新型属于芯片进样用装置技术领域，具体涉及一种全自动芯片进样装置。

背景技术

芯片，英文为Chip；芯片组为Chipset。芯片一般是指集成电路的载体，也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果，通常是一个可以立即使用的独立的整体。芯片也有它独特的地方，广义上，只要是使用微细加工手段制造出来的半导体片子，都可以叫做芯片，里面并不一定有电路。比如半导体光源芯片；比如机械芯片，如MEMS陀螺仪；或者生物芯片如DNA芯片。在通讯与信息技术中，当把范围局限到硅集成电路时，芯片和集成电路的交集就是在“硅晶片上的电路”上。芯片组，则是一系列相互关联的芯片组合，它们相互依赖，组合在一起能发挥更大的作用，比如计算机里面的处理器和南北桥芯片组，手机里面的射频、基带和电源管理芯片组。

现有的芯片进样装置进样效率低，进样效果不明显，且基本为人工进样装置，人工进样浪费时间和劳动力，使用不方便，操作复杂。为进一步优化现存问题，现需要一种优化的芯片进样装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种全自动芯片进样装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种全自动芯片进样装置，包括处理器、上试剂槽、进样口、入槽口、下试剂槽、电源、注射控制器、显示屏，所述入槽口设置在进样口右侧，所述上试剂槽安装在入槽口的上部，所述下试剂槽安装在入槽口的下部，所述试剂槽与下试剂槽之间设有隔板，所述电源设置在上试剂槽与下试剂槽的右侧，所述上试剂槽上部安装有命令输入器，所述显示屏设置在命令输入器的右侧，所述处理器设置在命令输入器的下部，所述注射控制器设置在显示屏的下部。

优选的，所述上入槽口的内部设有自动开关，所述入槽口对称设置在进样口一端的上下两侧。

优选的，所述上试剂槽与下试剂槽均长方体结构，所述上试剂槽和下试剂槽均与电源电性连接。

优选的，所述隔板与上试剂槽固定连接，所述隔板与下试剂槽固定连接。

优选的，所述命令输入器与处理器无线连接。

优选的，所述进样口与入槽口均为圆柱型结构，所述进样口与入槽口转动连接。

本实用新型的技术效果和优点：1、该种全自动芯片进样装置入槽口为智能装置，由命令输入模块灵活控制样品的出入；

2、精密注射模块控制注入试剂槽的量，精密控制调节进样口进样量；

3、隔板隔开的上试剂槽与下试剂槽独立工作，根据样品的不同都可灵活盛装样品液和缓冲液。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的零部件内部示意图；

图3为本实用新型的隔板结构示意图。

图中：1、命令输入器；2、处理器；3、上试剂槽；4、进样口；5、入槽口；6、隔板；7、下试剂槽；8、电源；9、注射控制器；10、显示屏。

具体实施方式