[实用新型]一种避免台阶孔干涉的检验芯轴

说明书

本实用新型提供的一种避免台阶孔干涉的检验芯轴，包括与零件台阶孔相配合的芯轴本体，所述芯轴本体的两端端部分别套装有第一涨套和第二涨套；其中，第一涨套和第二涨套分别与零件台阶孔两端的基准孔相配合；该结构避免了在检测时，中间台阶孔对检验芯轴的干涉；本实用新型结构简单、操作方便；测量结果稳定、消除了产品的质量风险。

技术领域

本实用新型属于汽车零部件生产领域，具体涉及一种避免台阶孔干涉的检验心轴。

背景技术

零件8G-4565行星齿轮内孔结构如图1，因内孔为两端大、中间小的台阶孔，测量要求使用两端孔A和B的公共基准，现有普通心轴涨套为单一外圆面，由于零件台阶孔干涉，在一端装入时，无法装入另一端孔内，因而无法使用普通检验心轴，在无法同时涨紧两侧内孔的情况下，两侧内孔的A、B基准无法同时使用，因而不能满足图纸要求的使用“A-B”公共基准。

发明内容

本实用新型提供的一种避免台阶孔干涉的检验芯轴，解决了现有零件台阶孔无法使用普通检验芯轴进行检测的缺陷。

为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

本实用新型提供的一种避免台阶孔干涉的检验芯轴，包括与零件台阶孔相配合的芯轴本体，所述芯轴本体的两端端部分别套装有第一涨套和第二涨套；其中，第一涨套和第二涨套分别与零件台阶孔两端的基准孔相配合。

优选地，第一涨套和第二涨套上分别开设有第一内锥孔和第二内锥孔，所述第一内锥孔和第二内锥孔同轴布置。

优选地，第一内锥孔和第二内锥孔均与芯轴本体的外锥面相贴合。

优选地，第一涨套和第二涨套的外圆同轴布置。

优选地，第一涨套和第二涨套的外圆表面分别与零件台阶孔两端的基准孔相贴合。

优选地，芯轴本体上套装有挡圈，所述挡圈置于零件台阶孔的一端端部基准孔和中间基准孔之间。

优选地，第二涨套与芯轴本体之间为可拆式连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

本实用新型提供的一种避免台阶孔干涉的检验芯轴，包括与零件台阶孔相配合的芯轴本体，在芯轴本体的两端端部分别配合安装第一涨套和第二涨套，该结构避免了在检测时，中间台阶孔对检验芯轴的干涉；本实用新型结构简单、操作方便；测量结果稳定、消除了产品的质量风险。

进一步的，两个涨套的内锥孔和外圆均同轴布置，保证了在测量时满足A-B公共基准。

进一步的，在涨套上套装一个挡圈，用以对第一涨套的限位。

进一步的，其中一个涨套与芯轴本体的可拆式连接，便于工装的拆卸与安装。

附图说明

图1是现有的零件结构示意图；

图2是检验芯轴的装配示意图；

图3是涨套的在切割之前的结构示意图；

图4是涨套在切割后的结构示意图；

其中，1、芯轴本体 2、第一涨套 3、挡圈 4、第二涨套。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型进一步详细说明。

本实用新型提供的一种避免台阶孔干涉的检验心轴，如图2所示，包括与台阶孔相配合的芯轴本体1，所述芯轴本体1为圆台形结构，所述芯轴本体1的两端端部分别套装有第一涨套2和第二涨套4。

其中，第一涨套2和第二涨套4上分别开设有第一内锥孔和第二内锥孔，所述第一内锥孔和第二内锥孔同轴布置。