[实用新型]一种光纤陀螺敏感环测试系统

说明书

本实用新型涉及光纤陀螺测试技术领域，公开了一种光纤陀螺敏感环测试系统，包括测试电箱、用于数据采集及控制的上位机，所述测试电箱包括依次连接的光源驱动板、光源、耦合器、探测器、A/D模块、逻辑处理模块以及D/A模块；所述耦合器包括一个一分三耦合器，三个二分二耦合器，所述光源与一分三耦合器的单端口连接，一分三耦合器的三端口分别连接三个二分二耦合器；三个二分二耦合器分别通过三个探测器连接三个A/D模块，三个A/D模块通过逻辑处理模块分别连接三个D/A模块；还包括用于检测测试电箱输出信号的多通道示波器，多通道示波器通过设置在测试电箱上的接口单元与测试电箱连接；本实用新型的测试系统测试效率高、测试操作连接便捷、可视化程度高。

技术领域

本实用新型涉及光纤陀螺测试技术领域，更具体地，涉及一种光纤陀螺光纤环测试系统。

背景技术

光纤陀螺在出厂前需要经过严格的测试，光纤环、敏感环作为光纤陀螺的重要部件，对其要求严格，在生产过程中需要对其进行性能测试，包括静态精度、全温精度、力学状态精度等。

现有技术中，对光纤敏感环的测试多为一般的单一测试，没有形成一套完整的测试系统。如专利申请号为CN2013208657775，公开了一种光纤陀螺用光纤环的测试系统。一次只能测试一个光纤环，测试效率低，且测试方式单一，仅能通过上位机的数据来进行测试控制，不能实现测试过程中的可视化监控。且现有的测试装置连接复杂，操作不便。

实用新型内容

本实用新型为克服上述现有技术所述的至少一种缺陷，提供一种测试效率高，操作方便、可视性好的光纤陀螺敏感环测试系统。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案如下：

提供一种光纤陀螺敏感环测试系统，包括测试电箱、用于数据采集及控制的上位机，所述测试电箱包括依次连接的光源驱动板、光源、耦合器、探测器、A/D模块、逻辑处理模块以及D/A模块；所述耦合器包括一个一分三耦合器，三个二分二耦合器，所述光源与一分三耦合器的单端口连接，一分三耦合器的三端口分别连接三个二分二耦合器；三个二分二耦合器分别通过三个探测器连接三个A/D模块，三个A/D模块通过逻辑处理模块分别连接三个D/A模块；

所述测试系统还包括用于检测测试电箱输出信号的多通道示波器，多通道示波器通过设置在测试电箱上的接口单元与测试电箱连接；

所述接口单元包括分别用于三个探测器输出信号检测输出的VPIN-X接口、VPIN-Y接口、VPIN-Z接口，分别用于三个波导驱动阶梯波信号检测输出的JTB-X接口、JTB-Y接口、JTB-Z接口，以及用于连接上位机进行数据通信的串行接口。

本方案中，三个二分二耦合器可以分别外接待测敏感环的三个波导，三个D/A模块可以分别外接三个待测敏感环的三个波导的驱动管脚。多通道示波器通过与VPIN-X接口、VPIN-Y接口、VPIN-Z接口，JTB-X接口、JTB-Y接口、JTB-Z接口连接，显示三个探测器的输出信号和三个波导驱动阶梯波信号。本方案中，可以同时对三个敏感环进行测试。利用上位机对测试电箱的逻辑处理模块进行程序下载及数据采集，通过VPIN-X接口、VPIN-Y接口、VPIN-Z接口，JTB-X接口、JTB-Y接口、JTB-Z接口，连接多通道示波器实现测试过程中的阶梯波、PIN信号输出监控。

进一步地，所述接口单元还包括分别连接三个波导的驱动管脚，并输出三个波导调制信号的Y波导-X接口、Y波导-Y接口、Y波导-Z接口。在对敏感环测试时，Y波导-X接口、Y波导-Y接口、Y波导-Z接口用于分别外接三个波导的驱动管脚，使得测试系统连线更加方便。

进一步地，为了使测试更加便捷，所述测试电箱的箱体设有光纤环定位工装，光纤环定位工装为环形凹槽，凹槽大小与光纤环相匹配，凹槽内设有定位栓，定位栓的位置与光纤环上的定位孔位置相匹配。

作为优选方案之一，所述光纤环定位工装处设有耦合器尾纤出纤口，耦合器尾纤通过出纤口与外部波导熔接。