[实用新型]闩锁测试平移装置

说明书

本实用新型闩锁测试平移装置，应用于设有芯片的闩锁测试机台，所述闩锁测试平移装置包括电池组、开关元件、用于监控所述芯片的电源管脚电流的电流监控器和用于监控所述芯片的电源管脚电压的电压监控器，所述闩锁测试平移装置与所述芯片构成一测试回路。通过闩锁测试机台进行脉冲控制触发，即令电流源触发被测管脚，从而模拟芯片正常工作时的闩锁测试；可经过电流监控器和电压监控器判断是否闩锁现象发生；闩锁现象发生，并且电池组不停供电，所以可以将闩锁现象保持住；将芯片从测试平台拆下即可移动，便于进行失效分析。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试技术领域，特别涉及集成电路正常工作时的抗闩锁测试技术领域，具体是指一种闩锁测试平移装置。

背景技术

集成电路正常工作时，由于设计和工艺的原因，在外界干扰下有可能会造成电路发生闩锁现象，即电源管脚对地管脚表现低阻抗导通，从而导致集成电路不能正常工作。

但是，现有的MK2闩锁测试机台，由于设计原因，体积庞大，所以不便于移动，且不能将闩锁状态保持住，仅能模拟集成电路正常工作时，给与电源搭配及电流干扰源触发判定是否有闩锁现象。

如图1和图2所示，闩锁测试机台通常包括机台主体11、测试平台12和测试夹具13，测试平台12设置在机台主体11上，测试夹具13设置在测试平台12上，测试时，测试样品即芯片20(集成电路)夹在测试夹具13中，构成如图2所示的电路，其中，供电电源102给芯片20电源管脚B上电并量测其正常工作时电流，电流源101连接芯片20的被测管脚C，当电流源101触发被测管脚C后，闩锁测试机台内部的电流测量装置103量测电源电流后判定是否有闩锁后，供电电源102就会自动下电，因此即使有闩锁现象，由于设备本身会自动断电，所以闩锁现象不能被保持住，更不能将此电路平移。

从而，导致有些集成电路在发现有闩锁现象后，在做失效分析时，因闩锁现象不能被很好的保持住，所以对失效分析带来很大的不便，一般需要通过其他手段将集成电路搞坏后进行分析，这样就带来了很多的不确定因数，失效的位置不一定是发生闩锁的位置，从而导致成本高、且极易误导分析方向，从而对测试结果造成不确定影响。

因此，有必要提供一种闩锁测试平移装置，解决使用闩锁测试机台无法将闩锁现象保持住且不能移动的问题。

实用新型内容

为了解决使用MK2闩锁测试机台无法将闩锁现象保持住且不能移动的问题，本实用新型提供了一种闩锁测试平移装置。

本实用新型提供的闩锁测试平移装置，应用于设有芯片的闩锁测试机台，所述闩锁测试平移装置包括电池组、开关元件、用于监控所述芯片的电源管脚电流的电流监控器和用于监控所述芯片的电源管脚电压的电压监控器，所述电池组、所述开关元件、所述电流监控器、所述电压监控器与所述芯片电连接成一测试回路。

通过控制开关元件闭合，使电池组给芯片(集成电路)供电，通过电流监控器和电压监控器观察芯片的基本信息；连接好之后，通过闩锁测试机台进行脉冲控制触发，即令电流源触发被测管脚，从而模拟芯片正常工作时的闩锁测试；可经过电流监控器和电压监控器判断是否闩锁现象发生；闩锁现象发生，并且电池组不停供电，所以可以将闩锁现象保持住；将芯片从测试平台拆下即可移动，便于进行失效分析。使用本实用新型，能够解决使用闩锁测试机台(如MK2)时无法将闩锁现象保持住且不能移动的问题，便于闩锁发生时将状态保持住并进行平移以做下一步失效分析，并且电路简单快速，成本低，测试结果准确稳定，结合其他分析手段能够快速的将失效分析点找出，适于大规模推广应用。

进一步地，所述电池组的负极连接于所述芯片的接地管脚，所述电池组的正极通过所述开关元件连接于所述电流监控器的输入端和所述电压监控器的输入端，所述电流监控器的输出端和所述电压监控器的输出端连接于所述芯片的电源管脚。

进一步地，所述闩锁测试机台上还设有用于夹持所述芯片的测试夹具。