[实用新型]圆柱结构横向变形测量装置

说明书

本实用新型公开了一种圆柱结构横向变形测量装置，包括呈筒状结构的套环，该套环设有开口，套环在开口的两侧各设有一个固定支座，所述固定支座上安装有开度测量仪，所述开度测量仪用于测量两个固定支座之间的距离变化值。采用以上方案，可以有效反应结构在圆周方向的整体横向形变，而非采用应变片所测得的局部形变。测量时，结构的横向变形通过本装置套环开口的开合度来进行反应，并经过测量仪实时测量计算，快速得出测量结果，提高测量效率和精度，提高测量可靠性的同时，降低测量成本，优化测试经济性。

技术领域

本实用新型涉及形变测量技术领域，具体涉及一种圆柱结构横向变形测量装置。

背景技术

在材料静态或动态压缩实验中，对样品进行轴向压缩，其产生的横向变形主要通过粘贴在试样表面的应变片进行测量，然而脆性材料在破坏阶段将产生较大的横向变形及剪切破坏，使得粘贴于试样表面的应变片也随之破坏，无法有效获取材料破坏后的变形量，且应变片通常也只能测量样品局部的形变值，很难整体反应样品圆周方向形变量，其测量结果具有一定的局限性。同时常规的应变片测量横向变形的方法，测试时需要每次对试样进行表面处理、应变片粘贴及信号线焊接等工作，在对大量样品进行测试时，工作效率较低，且容易增加测量成本。

实用新型内容

为解决上述问题，本实用新型提供了一种圆柱结构横向变形测量装置，可以重复利用，降低测量成本，提高测量效率。

为实现上述目的，本实用新型技术方案如下：

一种圆柱结构横向变形测量装置，其关键在于：呈筒状结构的套环，该套环设有开口，套环在开口的两侧各设有一个固定支座，所述固定支座上安装有开度测量仪，所述开度测量仪用于测量两个固定支座之间的距离变化值。

采用以上结构，通过将套环套安装在圆柱形测试样品上，当样品受到轴向的挤压，在圆周方向发生横向变形，从而反应到开口处两个固定支座之间的距离变大，通过测得的开度变化值即可根据公式快速计算出样品的横向形变均值，测量准确快速，且测量装置不易损坏，可多次重复使用。

作为优选：所述开度测量仪为LVDT笔式位移传感器，所述LVDT笔式位移传感器具有弹性接触端、固定端和信号输出线；

其中所述弹性接触端处于两个固定支座之间，所述固定端通过锁紧螺钉固定在其中一个固定支座上，弹性接触端正对另一个固定支座。采用LVDT笔式位移传感器通过弹性压缩再释放的形式测量开度变化，有利于进一步提高测量精度，且适用于精细测量，并且通过传感器的信号输出线与外部采集设备相连，可以更快速的得到测量数据，进一步提高测量效率。

作为优选：所述锁紧螺钉的设置方向与LVDT笔式位移传感器的轴向垂直，锁紧螺钉从固定支座远离套环的侧壁穿入固定支座内，并与所述固定端抵接。采用以上锁紧方式，便于安装时松开锁紧螺钉，快速调整LVDT笔式位移传感器的位置，满足量程需求。

作为优选：还包括限位弹簧，两个所述固定支座上均设有凸柱，所述限位弹簧的两端可拆卸地固定在两个凸柱上。采用均匀设置的方式，通过合适的限位弹簧可将两个固定支座向内收紧，确保在测量初期，套环能紧贴于样品表面，这样当样品发生形变时才能更好的为开度测量仪检测到，同时也方便开度测量仪量程的选取和调节，提高检测精度。

作为优选：所述套环为铝合金材质。采用以上方案，有利于延长测量装置的重复使用寿命，同时满足套环可变形的需求。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

采用本实用新型提供的圆柱结构横向变形测量装置，可以有效反应结构在圆周方向的整体横向形变，而非采用应变片所测得的局部形变，同时将整体形变，通过简单的结构设计，通过套环开口的开合度来进行反应，并通过测量仪实时测量计算，快速得出测量结果，提高测量效率和精度，提高测量可靠性的同时，降低测量成本，优化测试经济性。

附图说明