[实用新型]电子探针不规则样品载物台

说明书

本实用新型公开了电子探针不规则样品载物台，包括底座、支撑件、紧固件和金属弹簧，所述金属弹簧的内径与样品的尺寸相适配，将金属弹簧放置在底座上，所述金属弹簧的外侧对称设置有支撑件，所述支撑件通过紧固件固定在底座上，所述支撑件的高度满足支撑件上部与电子探针的探头间的距离为标准工作距离，所述支撑件的上部转动连接有固定板，将样品放置在金属弹簧中，此时样品和挤压的金属弹簧的高度之和与支撑件的高度相适配，使样品的表面与支撑件上部相平，且样品的底端悬空，转动固定板将样品的上端固定。本实用新型解决了放置不规则样品和大体积样品的难题。

技术领域

本实用新型涉及矿物测试领域，特别涉及一种电子探针不规则样品载物台。

背景技术

电子探针微区分析技术是一种无损微区原位主量元素定性定量分析方法，由于它的操作简单，实验结果的解释直截了当，分析过程中不损坏样品，可以进行原位微区分析，测试精度高等优点，在地质、材料等许多领域被广泛应用，是样品成分分析的重要工具。

电子探针对测试样品的要求十分严格，现有的载物台要求测试样品在形状上保证样品的测试表面与底面是相互平行的平面。但对于一些已经加工制作完成的不规则样品(如珠宝样品)，由于样品的价值或加工工艺等其他原因往往不可能为了分析需求再对其进行加工磨平底面，因此无法进行实验测试。如果测试中使用橡皮泥、双面胶等粘性物对不规则样品进行固定，会影响电子探针样品仓里的真空度，无法进行测试甚至会导致仪器故障、损坏。因此目前还没有一种比较好的载物台或者固定方法来放置不规则样品。

此外，传统载物台对于样品的大小也有约束，由于其放置样品的底座形状是固定的，因此对样品的大小及形状有严格要求，无法放置特殊尺寸的样品，从而造成无法进行实验测试。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型的实施例提供了一种可以对不规则样品进行良好固定，不会对仪器真空度等造成影响；同时可以放置大体积样品，方法简单而有效，制作工艺也并不复杂的电子探针不规则样品载物台。

本实用新型的实施例提供电子探针不规则样品载物台，包括底座、支撑件、紧固件和金属弹簧，所述金属弹簧的内径与样品的尺寸相适配，将金属弹簧放置在底座上，所述金属弹簧的外侧对称设置有支撑件，所述支撑件通过紧固件固定在底座上，所述支撑件的高度满足支撑件上部与电子探针的探头间的距离为标准工作距离，所述支撑件的上部转动连接有固定板，将样品放置在金属弹簧中，此时样品和挤压的金属弹簧的高度之和与支撑件的高度相适配，使样品的表面与支撑件上部相平，且样品的底端悬空，转动固定板将样品的上端固定。

进一步，所述支撑件是中空柱，所述支撑件的内壁设有内螺纹，所述紧固件的外壁设有与内螺纹相适配的外螺纹，所述底座上开有与紧固件的下端相适配的螺纹底孔，所述螺纹底孔在底座上均匀分布，将支撑件放置在底座上，所述支撑件在底座上的位置根据样品的大小进行选择，再通过将紧固件插入支撑件中，并转动至紧固件的下端固定在对应的螺纹底孔中，即将支撑件固定。

进一步，所述金属弹簧的内径和强度根据样品的大小和重量进行选择。

进一步，所述固定板包括转动部和固定部，且一体成型，所述转动部套在支撑件上部，所述转动部上有一凹槽，所述紧固件的上端卡在转动部的凹槽内，所述固定部呈V形，样品需要固定时，转动所述转动部，使固定部的V形尖端相对，进而将样品固定，样品不需要固定时，转动所述转动部，使固定部的V形尖端相远离。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：本实用新型应用于电子探针样品载物台放置测试样品，可适用于多种型号的电子探针；提高了电子探针测样效率，可以对不规则样品进行良好固定，不会对仪器真空度等造成影响；同时，解决了放置不规则样品和大体积样品的难题；方法简单而有效，制作工艺也并不复杂，十分有利于各领域的一些不规则但不能进行二次加工、破坏的样品进行电子探针精确主量分析，有利于其进一步进行科学研究，为进行科研工作提供了良好的前提条件，为分析测试带来极大便利，具有良好的应用前景。