[实用新型]一种用于测试导光件的导光性能的测试仪有效
申请号: | 201820545381.5 | 申请日: | 2018-04-17 |
公开(公告)号: | CN208223783U | 公开(公告)日: | 2018-12-11 |
发明(设计)人: | 任耀明;李华威;李艳文;黄孙福 | 申请(专利权)人: | 东莞市永超塑胶科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 卢春华 |
地址: | 523000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导光件 发光机芯 射出 导光性能 出光孔 容置孔 载具 测试仪 发光体 射入 本实用新型 测试准确率 可拆卸连接 测试 测量仪器 测试效率 活动设置 强度差别 移动载具 预定位置 导光率 容设 装入 判定 移动 配合 制造 | ||
本实用新型涉及测量仪器技术领域,尤其公开了一种用于测试导光件的导光性能的测试仪,包括机架、设置于机架的发光机芯、活动设置于机架并用于配合发光机芯的载具,载具包括第一本体、与第一本体可拆卸连接的第二本体,第一本体、第二本体之间设有容置孔;发光机芯设有发光体,机架设有出光孔,发光体发出的光线经由出光孔射出;当导光件制造完成后,将导光件装入容置孔中,然后移动载具使得载具移动到预定位置,然后启动发光机芯,发光机芯射出的光线经由出光孔射入容置孔所容设的导光件内,然后再从导光件射出,利用射入导光件、射出导光件的光线强度差别判定导光件的导光率,提升导光件的导光性能的测试效率及测试准确率。
技术领域
本实用新型涉及测量仪器技术领域,尤其公开了一种用于测试导光件的导光性能的测试仪。
背景技术
在生产制造的过程中,常常需要生产各种各样的导光件,例如透光柱、透光玻璃、透光灯罩等,当导光件制造完成后,需要对导光件的导光性能(透光率)进行测试,现有技术中主要是经由作业人员手动抓持导光件,然后将导光件遮盖住发光灯珠所发出的光线,利用作业人员目测评估导光件的导光性能,测试效率低下、测试准确率不高。
实用新型内容
为了克服现有技术中存在的缺点和不足,本实用新型的目的在于提供一种用于测试导光件的导光性能的测试仪,利用射入导光件、射出导光件的光线强度差别判定导光件的导光率,提升导光件的导光性能的测试效率及测试准确率。
为实现上述目的,本实用新型的一种用于测试导光件的导光性能的测试仪,包括机架、设置于机架的发光机芯、活动设置于机架并用于配合发光机芯的载具,载具包括第一本体、与第一本体可拆卸连接的第二本体,第一本体、第二本体之间设有容置孔,容置孔贯穿载具,容置孔用于容设外界的导光件;发光机芯设有发光体,机架设有用于连通容置孔的出光孔,发光体发出的光线经由出光孔射出。
其中,所述测试仪还包括两个光照传感器,一个光照传感器用于检测射入容置孔所容设的导光件内的光线的强度,另一个光照传感器用于检测射出容置孔所容设的导光件的光线的强度。
其中,所述机架设有定位盲槽,定位盲槽自机架的外表面凹设而成,出光孔位于定位盲槽内,出光孔贯穿定位盲槽的底壁,第一本体或/和第二本体设有用于突伸入定位盲槽内的定位柱,容置孔贯穿定位柱。
其中,所述测试仪还包括遮光圈,定位柱设有容置环槽,容置环槽自定位柱的自由端的端面凹设而成,遮光圈装设于容置环槽内,遮光圈突伸出定位柱并用于抵触容置环槽的底壁,遮光圈环绕容置孔设置。
其中,所述机架设有导槽,第一本体设有滑块,滑块自第一本体的外表面突设而成,滑块滑动设置于导槽内;发光机芯还包括控制芯片及两个调节旋钮,发光体、两个调节旋钮分别与控制芯片电性连接,一个调节旋钮用于经由控制芯片调整发光体的发光频率,另一个调节旋钮用于经由控制芯片调整发光体的发光强度。
本实用新型的有益效果:当导光件制造完成后,将导光件装入容置孔中,然后移动载具使得载具移动到预定位置,然后启动发光机芯,发光机芯射出的光线经由出光孔射入容置孔所容设的导光件内,然后再从导光件射出,利用射入导光件、射出导光件的光线强度差别判定导光件的导光率,提升导光件的导光性能的测试效率及测试准确率。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图;
图2为本实用新型的分解结构示意图;
图3为本实用新型的载具与遮光圈的分解结构示意图。
附图标记包括:
1—机架 2—发光机芯 3—载具
4—第一本体 5—第二本体 6—容置孔
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