[实用新型]用于楼房建设质检的楼层地板高度检测装置

说明书

本实用新型公开了一种用于楼房建设质检的楼层地板高度检测装置，包括能够在竖直方向上进行排列的上激光测距仪和下激光测距仪，通过设置第一轴旋转安装于内环上，第二轴旋转安装于外环上，因此在配重块的作用下能够使所述立杆处于竖直状态，因此两个激光测距仪也位于同一竖直线上，此时开启两个激光测距仪，两个激光测距仪指向同一方向，并对应地测量到发射探头上的延长杆与接收探头上的延长杆的距离，当距离相等时，发射探头正对接收探头。本实用新型的用于楼房建设质检的楼层地板高度检测装置，结构较为简单，并且安装和非常方便，有效提高检测效率和检测精度。

技术领域

本实用新型涉及一种用于楼房建设质检的楼层地板高度检测装置，属于工程建设检测技术领域。

背景技术

在使用楼板无损测厚仪测量楼板厚度时，为测得准确的楼板厚度，必须通过接收探头找到发射探头的准确位置，由于测厚仪的发射探头和接收探头分设在楼板的上下两侧，受到楼板的阻隔，很难定位发射探头的位置，通常要靠与楼板相互垂直的两面墙壁为定位基准，量取一定的距离来确定它们的位置，以保证发射探头和接收探头的连线垂直于楼板表面，从而测得楼板的真实厚度。这样做费工、费时，又由于作为定位基准的墙壁本身的位置和尺寸可能存在偏差，会影响到测量结果的真实性。鉴于此，中国专利文献CN102768032 B公开了一种楼板测厚方法，通过在楼板一侧设置三个呈三角形分布的发射探头，另一侧设置一个接收探头，四者之间的连线形成一个三棱锥体，当获得三棱锥体的四条边长时即可计算出三棱锥体的高，这就是楼板的厚度。这种方式一方面误差较大，另一方面楼板可能厚度不一，这种方式没有办法测得某一点位置的楼板厚度。

实用新型内容

因此，本实用新型的目的在于提供一种能够便于定位发射探头和接收探头的用于楼房建设质检的楼层地板高度检测装置。

为了实现上述目的，本实用新型的一种用于楼房建设质检的楼层地板高度检测装置，包括位于楼板上下两侧的发射探头和接收探头、探头定位器；所述发射探头与接收探头上分别设置有竖直的延长杆；所述探头定位器包括立杆，在所述立杆上部设置有水平的第一轴，所述立杆穿过一内环，所述第一轴穿过所述内环上的轴孔，所述内环的外侧设置有水平的第二轴，所述第二轴与所述第一轴垂直，在所述内环外侧设置有外环，所述第二轴穿过所述外环上的轴孔，所述外环固定于楼外，在所述立杆上安装有上安装座和下安装座，所述上安装座内设置有上激光测距仪，下安装座里设置有下激光测距仪；所述上激光测距仪位于所述楼板上方的上层窗口的外侧，所述下激光测距仪位于所述楼板下方的下层窗口的外侧；在所述立杆的底端设置有一铜质的配重块，在所述配重块下方设置有一磁铁；所述立杆为一伸缩杆，包括外管以及插入到所述外管内的内杆，所述外管与所述内杆通过调节螺栓固定。

所述外环与所述磁铁分别固定于一夹持装置上；所述夹持装置包括一连杆，所述连杆固定于一门型支架，所述门型支架通过紧固螺栓夹持固定于竖直墙体上。

采用上述技术方案，本实用新型的用于楼房建设质检的楼层地板高度检测装置，使用时由于第一轴旋转安装于内环上，第二轴旋转安装于外环上，因此在配重块的作用下能够使所述立杆处于竖直状态，因此两个激光测距仪也位于同一竖直线上，此时开启两个激光测距仪，两个激光测距仪指向同一方向，并对应地测量到发射探头上的延长杆与接收探头上的延长杆的距离，当距离相等时，发射探头正对接收探头；配重块为铜质，因此在配重块下方设置磁铁，当配重块摆动时切割磁力线从而发生涡流效应，因此产生电磁阻尼，能够快速停止摆动，迅速完成立杆的竖直定位；由于设置了磁铁，只有当磁铁的安装位置与配重块相近时电磁阻尼效果才好，而由于楼房建设中楼层的高度并不恒定，因此将立杆设置为伸缩杆，在不同的楼层高度时可以调节伸缩杆的长度。本实用新型的用于楼房建设质检的楼层地板高度检测装置，能够便于定位发射探头和接收探头，提高测量精度。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

图2为内环与外环的装配俯视示意图。

图3为立杆的结构示意图。