[实用新型]通信模块的掉电测试系统有效

专利信息
申请号: 201820569102.9 申请日: 2018-04-20
公开(公告)号: CN208367159U 公开(公告)日: 2019-01-11
发明(设计)人: 刘伟;唐晓柯;李铮;杨季;王彦楠;王开军;辛宗彦 申请(专利权)人: 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 周际;张相午
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 掉电测试 通信模块 电源管理模块 单片机 指令 本实用新型 掉电模式 上下电 掉电 通信 发送 分析
【说明书】:

实用新型公开了一种通信模块的掉电测试系统。该掉电测试系统包括:单片机、FPGA、电源管理模块。单片机用于根据掉电模式发送掉电测试指令。FPGA与所述单片机进行通信,用于分析并执行所述掉电测试指令。电源管理模块与所述FPGA和所述通信模块均进行通信,所述FPGA通过执行所述掉电测试指令从而控制所述电源管理模块完成对所述通信模块的上下电。所述掉电测试系统能够进行高精度定时掉电。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域,特别涉及一种通信模块的掉电测试系统。

背景技术

目前市面上针对通信模块的掉电测试功能大部分是集成到产品的整个测试系统中,作为其中的一部分,仅仅是通过指令及配套后端设备实现通信模块的上、下电控制。目前并没有独立的一个针对通信模块的高精度定时掉电的测试系统。

现有技术方案中,掉电测试设备主要是通过上位机+单片机发出接口指令来控制电源管理模块给被测对象进行断电、上电,对断电动作执行的时间精度要求并不高。针对某些特殊对象的高精度定时掉电测试并不适用,例如需要在flash擦写过程中进行掉电,flash字节擦写在ms级,普通的掉电测试设备时间精度较低,无法及时在擦写过程中进行掉电。

公开于该背景技术部分的信息仅仅旨在增加对本实用新型的总体背景的理解,而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种通信模块的掉电测试系统,能够进行高精度定时掉电。

为实现上述目的,本实用新型提供了一种通信模块的掉电测试系统。该掉电测试系统包括:单片机、FPGA、电源管理模块。单片机用于根据掉电模式发送掉电测试指令。FPGA与所述单片机进行通信,用于分析并执行所述掉电测试指令。电源管理模块与所述FPGA和所述通信模块均进行通信,所述FPGA通过执行所述掉电测试指令从而控制所述电源管理模块完成对所述通信模块的上下电。所述掉电测试系统能够进行高精度定时掉电。

优选地,上述技术方案中,所述掉电模式为在规定的时间间隔内进行掉电的模式或在flash擦写过程中进行掉电的模式。

优选地,上述技术方案中,所述FPGA还用于监测所述电源管理模块,检测到掉电信号时反馈给所述单片机。

优选地,上述技术方案中,所述通信模块的掉电测试系统还包括上位机。上位机与所述单片机之间通信,用于选择掉电模式以及接收所述单片机执行掉电测试指令后反馈的掉电测试数据。

优选地,上述技术方案中,所述通信模块的掉电测试系统还包括RTC时钟模块,用于给所述通信模块的掉电测试系统提供精确的时钟。

优选地,上述技术方案中,所述通信模块的掉电测试系统还包括SD卡,与所述单片机进行通信,用于暂时存储掉电测试数据。

与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:所述通信模块的掉电测试系统通过上位机+单片机+FPGA实现对电源管理模块的控制,通过FPGA的高速处理及指令分析,可以实现被测对象的高精度定时掉电或即时掉电。

附图说明

图1是根据本实用新型的一实施方式的通信模块的掉电测试系统。

具体实施方式

下面结合附图,对本实用新型的具体实施方式进行详细描述,但应当理解本实用新型的保护范围并不受具体实施方式的限制。

除非另有其它明确表示,否则在整个说明书和权利要求书中,术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分,而并未排除其它元件或其它组成部分。

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