[实用新型]一种信号分析测试座

说明书

本实用新型公开了一种信号分析测试座，包括外壳、测试装置、底座、上盖、接口端、控制器、散热装置和防尘网，所述外壳上侧设有测试装置，所述测试装置内侧设有底座，所述底座内侧设有卡槽，所述底座上侧设有上盖，所述上盖与底座之间设有弹簧圈，所述测试装置左侧设有接口端，所述控制器两侧均设有散热装置，所述散热装置是通过可拆卸连接于外壳，所述散热装置内侧设有防尘网。散热装置的使用，将电路元件产生的热量进行排出，防止了热量排出去，确保了信号检测数据的准确，方便人的使用，防尘网的使用，信号分析测试座长时间的使用，防止空气中的灰尘进入到设备内部，避免了设备的毁坏，提高了设备的使用寿命，适应推广使用。

技术领域

本实用新型涉及电子电路检测设备技术领域，具体为一种信号分析测试座。

背景技术

IC芯片(Integrated Circuit集成电路)是将大量的微电子元器件(晶体管、电阻、电容等)形成的集成电路放在一块塑基上，做成一块芯片。而今几乎所有看到的芯片，都可以叫做IC芯片。

现有的信号分析测试座所出现的问题，对IC芯片进行信号测试过程中，电路元件会产生热量，许多的热量排出去，会影响信号检测数据不准确，不方便人的使用，信号分析测试座长时间的使用，会有空气中的灰尘进入到设备内部，会造成设备的毁坏，减少了设备的使用寿命，不适应推广使用，为此我们设计了一款新型的一种信号分析测试座，解决了传统的信号分析测试座的使用不便的问题。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型提供如下技术方案：一种信号分析测试座，包括外壳、测试装置、底座、上盖、接口端、控制器、散热装置和防尘网，所述外壳上侧设有测试装置，所述测试装置内侧设有底座，所述底座是通过可拆卸连接于外壳，所述底座内侧设有卡槽，所述底座上侧设有上盖，所述上盖与底座之间设有弹簧圈，所述测试装置左侧设有接口端，所述外壳内侧设有控制器，所述控制器两侧均设有散热装置，所述散热装置是通过可拆卸连接于外壳，所述外壳下侧设有支脚；

所述散热装置是由支架、防尘网、风扇、排风口组成，所述支架、防尘网、风扇、排风口为一体化机构，所述支架内侧设有防尘网，所述防尘网是通过可拆卸连接于支架，所述防尘网右侧设有风扇，所述风扇是通过可拆卸连接于支架，所述风扇右侧设有排风口。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述排风口上设有百叶窗，所述百叶窗是通过可拆卸连接于排风口。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述外壳上侧设有铭牌板，所述铭牌板是通过可拆卸连接于外壳。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述上盖与底座之间设有卡扣，所述卡扣是通过可拆卸连接于底座。

作为本实用新型的一种优选实施方式，所述测试装置、接口端和散热装置与控制器之间设有导线。

本实用新型的一种信号分析测试座，有益效果如下：

1.该一种信号分析测试座，通过设置散热装置的使用，IC芯片进行信号测试过程中，将电路元件产生的热量进行排出，防止了热量排出去，确保了信号检测数据的准确，方便人的使用。

2.该一种信号分析测试座，通过设置防尘网，信号分析测试座长时间的使用，防止空气中的灰尘进入到设备内部，避免了设备的毁坏，提高了设备的使用寿命，适应推广使用。

附图说明

图1为本实用一种信号分析测试座的结构示意图；

图2为本实用一种信号分析测试座的剖面结构示意图；

图3为本实用一种信号分析测试座的散热装置结构示意图。