[实用新型]一种阻抗测量治具

说明书

本实用新型实施例公开了一种阻抗测量治具。该阻抗测量治具包括：载物平台，用于放置当前被测面板；测试头，在测试头上设置两个测试探针；位置调整机构，测试头设置于位置调整机构上，位置调整机构用于驱动测试头沿至少一个方向移动；测试头用于被驱动沿平行于载物平台的第一方向和垂直于第一方向的第二方向移动；阻抗测量模块，与两个测试探针电连接，用于向两个测试探针施加测试信号并采集量测信号。本实用新型实施例的技术方案可以提高阻抗测量的准确性。

技术领域

本实用新型涉及测量技术，尤其涉及一种阻抗测量治具。

背景技术

透明导电膜如氧化铟锡(Indium-Tin Oxide，ITO)、二氧化锡、氧化镓-氧化锌及氧化铟-氧化铈等广泛应用于触摸屏、液晶显示器、光伏电池、特殊窗口和光电器件中的透明电极和电路制备，这些透明导电膜具有导电和透光双重特性。

透明导电膜激光蚀刻工艺是在激光技术、机械加工技术和控制技术发展到一定水平后发展起来的，与传统的化学蚀刻工艺相比，其在加工质量、生产效率、生产成本和环保方面有着明显的优势。由于激光有很高的功率密度和方向稳定性，用激光蚀刻工艺制作透明导电膜电极和电路图形的线宽和线距可达0.05毫米以下。激光加工是非接触性加工，对产品表面处理要求不高，产品表面更容易得到保护，产品品质更能得到保证。由于不用使用化学原料和消耗水资源，更符合环境保护要求。

图1为本实用新型实施例提供的一种显示面板的结构示意图。在制作显示面板等的制造工艺中，在检查激光蚀刻工艺中激光蚀刻的蚀刻深度是否满足要求时，通常对透明导电膜10的边缘进行激光蚀刻，使透明导电膜10的一角与其余部分断开，通过万用表测量该被激光蚀刻而打断的透明导电膜10的两侧是否短路(通常使万用表的两个表笔分别与A点和B点接触，以通过测量的阻抗值来判断短路情况)，来确定激光蚀刻是否满足要求。由于被激光蚀刻而断开的透明导电膜10的一角的面积较窄，且蚀刻痕迹(为L型)很浅，测试人员在通过万用表对其进行测量时，容易导致测量位置不准确，产生测量数值异常，通常需多次测量才能测出正确的数值，不但效率低下，而且易导致测量错误。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种阻抗测量治具，可提高阻抗测量的准确性，以解决因测试人员的测试手法的差异等，在测量时因测量位置不准确，产生测量数值异常，通常需多次测量才能测出正确的数值，不但效率低下，而且易导致测量错误的问题。

本实用新型实施例提供了一种阻抗测量治具，包括：

载物平台，用于放置当前被测面板；

测试头，在测试头上设置两个测试探针；

位置调整机构，测试头设置于位置调整机构上，位置调整机构用于驱动测试头沿至少一个方向移动；

测试头用于被驱动沿平行于载物平台的第一方向和垂直于第一方向的第二方向移动；

阻抗测量模块，与两个测试探针电连接，用于向两个测试探针施加测试信号并采集量测信号。

进一步地，还包括第一固定部件，位于载物平台上，用于固定当前被测面板于载物平台的第一固定位置。

进一步地，位置调整机构包括：沿第一方向延伸的丝杆、沿第二方向延伸的测试手臂、第二固定部件和第三固定部件，其中，测试手臂的第一端设置有第一开孔，丝杆从测试手臂的第一开孔处穿过，测试手臂与丝杆滑动连接，测试手臂的第二端与测试头滑动连接，

第二固定部件用于将测试手臂固定于丝杆上的任意位置，第三固定部件用于将测试头固定于测试手臂上的任意位置。

进一步地，位置调整机构还包括两个轴承座，固定在载物平台上，丝杆的两端分别固定于一轴承座的轴承孔内。

进一步地，测试手臂的第一端设置有第二开孔，第二开孔的孔壁上设置有螺纹，第二开孔与第一开孔连通，第二固定部件为螺丝。