[实用新型]晶振测试装置

说明书

本实用新型公开了一种晶振测试装置，属于晶振测试技术领域。该晶振测试装置包括主控板、电源、恒温箱、频率计和多个测试板，主控板上设置有控制模块、译码器、第一多路选择器，控制模块与电源连接，多个测试板设置在恒温箱中，主控板、电源和频率计置于恒温箱外，每个测试板上均设置有一个第二多路选择器、多个第三多路选择器和多个晶振安装座，在测试时将晶振放置在晶振安装座中，通过控制模块控制译码器、第一多路选择器、第二多路选择器、第三多路选择器，使测试板上的晶振被通电，并通过频率计进行检测，由于只有测试板在恒温箱中，主控板、电源、频率计均置于恒温箱外，因此避免温度对主控板、电源、频率计的影响，有利于提高测试的准确性。

技术领域

本实用新型涉及晶振测试技术领域，特别涉及一种晶振测试装置。

背景技术

晶振即晶体振荡器，是各种通信系统中最基础的元器件，也是系统中的基准时钟，其性能直接影响系统的稳定性、频率特性等

晶振在投入使用前，需要进行测试，检测晶振的频率，确保晶振的性能满足要求。

晶振通常通过晶振测试装置进行测试，为了提高测试的准确性，通常在恒温箱中进行，但是由于整个晶振测试装置都放置在恒温箱中，会对晶振测试装置造成一定的影响，从而影响到测试的准确性。

实用新型内容

为了提高晶振测试的准确性，本实用新型实施例提供了一种晶振测试装置。所述技术方案如下：

本实用新型实施例提供了一种晶振测试装置，所述晶振测试装置包括主控板、电源、恒温箱、频率计和多个测试板，所述主控板上设置有控制模块、译码器、第一多路选择器，所述控制模块与所述电源连接，所述多个测试板设置在所述恒温箱中，所述主控板、所述电源和所述频率计置于所述恒温箱外，所述多个测试板的结构相同，每个所述测试板上均设置有一个第二多路选择器、多个第三多路选择器和多组晶振安装座，每组晶振安装座均包括多个晶振安装座，每个所述晶振安装座均具有用于与晶振的供电端、信号输出端、接地端分别对应相连的供电端子、信号输出端子和接地端子，所述电源通过多个继电器分别与所述多个测试板上的所述晶振安装座的供电端子连接，同一所述测试板上的所述晶振安装座的供电端子与同一所述继电器的输出端相连，所述控制模块与所述译码器的输入端连接，所述译码器的多个输出端与所述多个继电器的控制端一一对应连接，每个所述测试板上，所述多个第三多路选择器的多个分支端分别与一组晶振安装座中的所述多个晶振安装座的信号输出端子一一对应连接，所述多个第三多路选择器的主干端分别与所述第二多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述多个测试板上的所述第二多路选择器的主干端分别与所述第一多路选择器的多个分支端一一对应连接，所述第一多路选择器的主干端与所述频率计连接，所述控制模块分别与所述第一多路选择器、所述第二多路选择器和所述第三多路选择器的控制端连接。

可选地，所述晶振测试装置还包括D/A转换器，所述晶振安装座还包括用于与晶振的压控端连接的压控端子，所述D/A转换器的输入端与所述控制模块连接，所述D/A转换器的输出端与所述压控端子连接。

可选地，所述恒温箱的箱壁上设置有线缆通孔。

可选地，所述晶振安装座包括底座和压板，所述底座上设置有晶振安装槽，所述晶振安装槽的槽底设置有多个通孔，所述供电端子、所述信号输出端子和所述接地端子分别插装在所述多个通孔中，所述压板与所述底座可拆卸连接，且所述压板位于所述晶振安装槽处。

可选地，所述供电端子、所述信号输出端子和所述接地端子与所述晶振安装槽的槽底均连接有弹簧。

可选地，所述晶振测试装置还包括数据存储模块，所述数据存储模块与所述频率计连接。

可选地，所述译码器为三八译码器。

可选地，所述第一多路选择器、所述第二多路选择器、所述第三多路选择器均为8选1选择器。

可选地，所述控制模块包括stc89c51单片机。