[实用新型]用于变温X射线衍射仪的阻光刀

说明书

根据本实用新型的用于变温X射线衍射仪的阻光刀，垂直固定在变温X射线衍射仪的变温腔体的顶部，具备：用于阻挡入射和出射的X射线的遮挡件；用于连接变温X射线衍射仪的变温腔体与遮挡件的连接件；和安装于遮挡件和连接件之间的调节件；连接件的一端固定在变温腔体的顶部，另一端通过调节件与遮挡件连接；遮挡件防止散射线和荧光线进入变温X射线衍射仪的探测器内，并通过调节件相对于连接件在规定范围内移动。根据本实用新型，可大大提高变温X射线衍射图谱峰形的准确度，有效降低散射线和荧光线对变温X射线衍射信号的影响。

技术领域

本实用新型涉及一种用于变温X射线衍射仪的阻光刀，尤其涉及一种测试有机或矿物样品的用于变温X射线衍射仪的阻光刀。

背景技术

物质的宏观物理和化学性质与其微观的晶体结构密切相关，因此晶体结构是研究固体物性理论的基础。而X射线衍射仪能够精确地对金属和非金属多晶粉末样品进行物相检索分析、物相定量分析、材料的线、面扫描定性分析、基本参数法线形分析、晶胞参数计算和固溶体分析等。因此，X射线衍射法成为提供固体物质结构信息的重要手段。

其中，变温X射线衍射可以得到温场对晶体结构影响的实时动态信息，可以得到材料的微观应变、晶胞参数、空间群、原子占位、热膨胀系数等随温度的变化规律，可以得到晶体晶化程度、晶格畸变、晶格振动等的实时信息，从而理解各种材料失效的机制、反应的机理等，在材料研究中具有重要的作用。

一般在现有技术中，变温X射线衍射测量时，采用入射X射线（包括散射线、荧光等）全部照射到样品上的测试方法，但该方法无法避免散射线和荧光对衍射信号背底的提高，使衍射图谱中各衍射峰的峰背比降低，不利于进行晶体结构的分析和表征。此外，尤其当样品为有机或矿物时，其X射线衍射图谱的出峰位置往往集中在低角度区域，过多的散射线和荧光等往往会在低角度形成弥散的宽的衍射峰，与非晶质的衍射峰产生混淆，这就直接造成了衍射峰峰形的不准确，大大限制了衍射图谱的分辨率和准确度，增加了数据分析的困难，从而制约了用变温X射线衍射技术进行晶体结构研究的发展。因此，发展方便实用的用于变温X射线衍射仪的阻光刀则显得非常必要。

实用新型内容

实用新型要解决的问题：

鉴于以上存在的问题，本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种用于变温X射线衍射仪的阻光刀，可有效避免散射线和荧光等对X射线衍射信号峰背比以及峰形的不利影响，能提高衍射线峰形的准确度，同时不影响衍射信号强度的采集，尤其适于有机或矿物样品。

解决问题的手段：

为了解决上述技术问题，本实用新型的一种用于变温X射线衍射仪的阻光刀，垂直固定在所述变温X射线衍射仪的变温腔体的顶部，具备：

用于阻挡入射和出射的X射线的遮挡件；

用于连接所述变温X射线衍射仪的所述变温腔体与所述遮挡件的连接件；和

安装于所述遮挡件和所述连接件之间的调节件；

所述连接件的一端固定在所述变温腔体的顶部，另一端通过所述调节件与遮挡件连接；

所述遮挡件防止散射线和荧光线进入所述变温X射线衍射仪的探测器内，并通过所述调节件相对于所述连接件在规定范围内移动。

根据本实用新型，遮挡件阻挡入射和出射的X射线，而连接件的一端固定在变温腔体的顶部，另一端通过调节件与遮挡件连接，从而可实现阻光刀相对于变温X射线衍射仪进行位置调节。因此，通过在变温腔体中放置阻光刀，可以有效避免大量的散射线和荧光线进入X射线衍射仪的探测器，使收集到的变温X射线衍射信号峰背比更高，同时阻光刀的高度也可以根据需要进行上下调节，这样既可以保证较高的峰背比，又可以保证较高的衍射线强度。还可以使收集到的衍射信号峰背比更强，从而大大提高变温X射线衍射图谱峰形的准确度，有效降低散射线和荧光线对变温X射线衍射信号的影响。