[实用新型]一种半导体致冷器件测试仪

说明书

本实用新型公开了一种半导体致冷器件测试仪，包括直流电源U、采集控制器、显示器、输入端均与直流电源U连接的交流开关电路和直流开关电路，交流开关电路和直流开关电路的输出端均与半导体致冷器件连接，交流开关电路包括逆变器、第一开关K1、以及位于逆变器输出端后电路上的电阻R1，交流开关电路的输出端还与一交流变送器和采集控制器依次连接，直流开关电路包括限流电阻R2、第二开关K2和采样电阻R3，采样电阻R3的两端、直流开关电路的输出端还与采集控制器连接，采集控制器与显示器连接，该半导体致冷器件测试仪，结构简单，可快速测量出半导体致冷器件的优质系数、最大温差，以供人们直观的了解的半导体致冷器件的质量情况。

技术领域

本实用新型涉及半导体器件测量装置技术领域，特别是指一种半导体致冷器件测试仪。

背景技术

优质系数和最大温差用以表征半导体致冷器件通电情况下可产生的最大温度变化，作为半导体器件的重要参数，是半导体器件质量的直观体现。现有半导体致冷器件的优质系数和最大温差没有特定的测量计算标准，各厂家的测试仪器、测试方法虽然不同，但还是认定半导体致冷器件的优质系数与该半导体致冷器件的温差电动势、电阻有关，而半导体致冷器件的最大温差更是取决于优质系数。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体致冷器件测试仪。

一种半导体致冷器件测试仪，包括直流电源U、采集控制器、显示器、输入端均与直流电源U连接的交流开关电路和直流开关电路，交流开关电路和直流开关电路的输出端均与半导体致冷器件连接，交流开关电路包括逆变器、第一开关K1、以及位于逆变器输出端后电路上的电阻R1，交流开关电路的输出端还与一交流变送器和采集控制器依次连接，直流开关电路包括限流电阻R2、第二开关K2和采样电阻R3，采样电阻R3的两端与采集控制器连接，直流开关电路的输出端还与采集控制器连接，采集控制器与显示器连接。

本实用新型半导体致冷器件测试仪，结构简单，可快速测量出半导体致冷器件的优质系数、最大温差，以供人们直观的了解的半导体致冷器件的质量情况，且其采用采集控制器记录测量过程中的中间测量值，并计算出半导体致冷器件的优质系数、最大温差，避免了人工的数据记录与计算，大大提高测试的速率和效率，使其符合工业化高速生产条件。

附图说明

图1是本实用新型半导体致冷器件测试仪的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型半导体致冷器件测试仪的具体实施方式作详细的说明：

如图1所示，一种半导体致冷器件测试仪，包括直流电源U、采集控制器3、显示器4、输入端均与直流电源U连接的交流开关电路1和直流开关电路2，交流开关电路1和直流开关电路2的输出端均与半导体致冷器件10连接，交流开关电路1包括逆变器11、第一开关K1、以及位于逆变器11输出端后电路上的电阻R1，交流开关电路1的输出端还与一交流变送器12和采集控制器3依次连接，直流开关电路2包括限流电阻R2、第二开关K2和采样电阻R3，采样电阻R3的两端与采集控制器3连接，直流开关电路2的输出端还与采集控制器3连接，采集控制器3与显示器4连接。

本实用新型半导体致冷器件测试仪，限流电阻R2用于对电路进行限流，防止测量电路中电流过大，而导致测试仪的损坏；显示器4用于各中间测量值或都最终测量值的显示。

本实用新型半导体致冷器件测试仪，测量步骤如下：