[实用新型]测试光源有效
申请号: | 201820689397.3 | 申请日: | 2018-05-08 |
公开(公告)号: | CN208109382U | 公开(公告)日: | 2018-11-16 |
发明(设计)人: | 鲁玉侠 | 申请(专利权)人: | 广州玉科仪器有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 黄正奇 |
地址: | 510405 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 卤素灯珠 光源 单芯光纤 引入端 测试光源 容置腔 光源投射 投射光斑 导光孔 机箱 光学性能测试 本实用新型 测试器件 发热效率 靠近设置 所处位置 穿设 灯珠 减小 连通 光照 老化 引入 | ||
本实用新型涉及一种测试光源,用于光学性能测试,包括机箱、卤素灯珠及单芯光纤,所述机箱内设有容置腔,所述卤素灯珠设置于容置腔内,所述机箱设有与容置腔连通的导光孔,单芯光纤的一端为光源引入端,单芯光纤的另一端为光源投射端,所述单芯光纤穿设于导光孔内,所述光源引入端与卤素灯珠对应,所述光源投射端用于向测试器件投射光斑。通过将光源引入端对应设置于靠近卤素灯珠的位置来增大进入光源引入端所处位置的光照强度,如此在投射光斑的强度一定时,可以通过靠近设置光源引入端的方式来减小卤素灯珠的功率,进而降低灯珠的发热效率,减缓测试光源的老化速度。
技术领域
本实用新型涉及光学性能测试技术领域,特别是涉及一种测试光源。
背景技术
为了对测试器件进行光学性能测试,一般多选用光斑较小的测试光源。为了减小测试光源的光斑,一般多选用单芯光纤进行导光。但由于单芯光纤的导光截面较小,在采用单芯光纤投射光斑时,为了提高投射光斑的照射强度,一般是通过提高测试光源内发光器件的功率来实现,如此使得测试光源处于高温状态,进而加快了测试光源内部的器件老化,降低了器件的使用寿命。
实用新型内容
基于此,本实用新型在于克服现有技术的缺陷,提供一种测试光源,来解决高温加快器件老化的问题。
一种测试光源,用于光学性能测试,包括机箱、卤素灯珠及单芯光纤,所述机箱内设有容置腔,所述卤素灯珠设置于容置腔内,所述机箱设有与容置腔连通的导光孔,单芯光纤的一端为光源引入端,单芯光纤的另一端为光源投射端,所述单芯光纤穿设于导光孔内,所述光源引入端与卤素灯珠对应,所述光源投射端用于向测试器件投射光斑。
上述测试光源,卤素灯珠设置于机箱的容置腔内,容置腔的内壁限制了卤素灯珠的光照范围。单芯光纤穿设于导光孔内,所述光源引入端与卤素灯珠对应,单芯光纤的光源投射端与测试器件对应,卤素灯珠发出的光通过光源引入端传播到光源投射端,光源投射端将光投射向测试器件。与普通采用卤素灯杯的测试光源相比,当光源引入端与卤素灯珠和卤素灯杯距离相同时,卤素灯珠的发光强度更大。本申请通过将光源引入端对应设置于靠近卤素灯珠的位置来增大进入光源引入端所处位置的光照强度。如此,在投射光斑的强度一定时,可以通过靠近设置光源引入端的方式来减小卤素灯珠的功率,进而降低灯珠的发热效率,减缓测试光源的老化速度。
进一步地,测试光源还包括光纤安置杆,所述光纤安置杆穿设于导光孔内,光纤安置杆的一端位于容置腔内与卤素灯珠对应,光纤安置杆的另一端位于容置腔外用于与测试器件对应,光纤安置杆内设有容置孔道,所述单芯光纤设置于容置孔道内。在光纤安置杆内设置容置孔道,单芯光纤设置于容置孔道内,通过光纤安置杆能较好地保护单芯光纤,避免单芯光纤受外力破损折断。
进一步地,所述机箱上设有光纤固定座,所述光纤固定座设有与导光孔相通的第一安装孔,所述第一安装孔与所述导光孔连通,所述光纤安置杆设置于第一安装孔内,光纤安置杆通过第一安装孔与光纤固定座可滑动配合。光纤安置杆设置于第一安装孔内,光纤安置杆通过第一安装孔可与光纤固定座可滑动配合。光纤安置杆可在第一安装孔内滑动,以使测试光源可根据实际所需的使用环境调节光纤安置杆突出于光纤固定座的长度。例如在测试光源的运输过程中,可以减小光纤安置杆突出于光纤固定座的长度,而在使用中,则可以增长光纤安置杆突出于光纤固定座的长度。
进一步,所述光纤固定座设有第一插接孔,所述第一插接孔与所述第一安装孔连通,所述第一插接孔内穿设有第一固定销,所述第一固定销与第一插接孔的内壁螺纹连接,第一固定销与光纤安置杆可抵接配合。在需要固定光纤安置杆与光纤固定座的相对位置时,转动第一固定销,第一固定销向靠近光纤安置杆的方向移动直至第一固定销与光纤安置杆抵接;在需要调节光纤安置杆与光纤固定座的相对位置时,转动第一固定销,第一固定销向远离光纤安置杆的方向移动直至第一固定销与光纤安置杆脱离。
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