[实用新型]一种投影仪中到位检测电路

说明书

本实用新型涉及一种微投领域，针对现有技术存在的问题，提供一种投影仪中到位检测电路。本实用新型巧妙的将常用的集电极输出电路，修改为了射级输出电路，利用光耦本身的集成电路PN结，在不增加任何成本的情况下，使系统实现待机时的逆流保护，同时保证电路的正常工作。本实用新型包括投影仪主控芯片、光耦、在投影仪镜头滑盖打开位置或关闭位置设置的挡片；光耦阳极以及光耦集电极接电源，光耦阴极接地，光耦发射极接投影仪主控芯片的PM检测口；当投影仪待机时，挡片隔离光耦二极管发光，光耦集电极与光耦发射极不导通，投影仪主控芯片PM检测口的高电平信号无法依次通过光耦集电极、光耦发射极倒灌至与光耦集电极连接的电源。

技术领域

本实用新型涉及一种微投领域，特别是涉及一种投影仪中到位检测电路。

背景技术

光耦器件内部通常包括一个发光二极管，和一个光电三级管组成，当光电三级管的基极有光照射时，即可导通光电二极管的集电极（C)和射级（E), 规格书推荐电路:光电三极管在未导通时（没有光照），由于三极管本身的PN结，可以C级和E级可以被视为一个极大的电阻，使得VCC经过RL和CE级分压后，Test point得到一个高电平，导通时（有B级有光照），由于PN 结特性，CE级两端，可以被视为导通（阻值极小），VCC 分压后，Test point即得到一个低电平。

现有技术，照官方推荐的电路，可以正常实现功能，但是由于光耦器件本身的离散性，使用过程中，通常是需要用ADC口来采集电压，目前投影仪常用的SOC 平台的IC， ADC（SAR）管脚都是PM口，在待机状态是有供电的，一旦软件故障，电源很用有可能直接通过ADC口反向留到其他电源端，导致待机异常的情况。

实用新型内容

本实用新型的发明目的在于：针对现有技术存在的问题，提供一种投影仪中到位检测电路。本实用新型巧妙的将常用的集电极输出电路，修改为了射级输出电路，利用光耦本身的集成电路PN结，在不增加任何成本的情况下，使系统实现待机时的逆流保护，同时保证电路的正常工作。

本实用新型采用的技术方案是这样的：

一种投影仪中到位检测电路包括：投影仪主控芯片、光耦、在投影仪镜头滑盖打开位置或关闭位置设置的挡片；光耦二极管的阳极以及光耦三极管的集电极接电源，光耦二极管的阴极接地，光耦三极管的发射极接投影仪主控芯片的PM检测口。

进一步的，当投影仪待机时，光耦二极管处于工作状态，挡片隔离光耦二极管发光，光耦三极管的集电极与光耦三极管的发射极不导通，投影仪主控芯片PM检测口的高电平信号无法通过光耦三极管的发射极倒灌至与光耦三极管的集电极连接的电源。

进一步的，所述二极管与三极管之间设置凹槽；投影仪镜头滑盖打开位置或关闭位置设置的挡片通过凹槽时，会分别对应使得光耦三极管的发射极的光耦三极管的集电极处于导通或者不导通状态。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：

1、改进前，例如图1，光耦器件内部通常包括一个发光二极管，和一个光电三级管组成，当光电三级管的基极有光照射时，即可导通光电二极管的集电极（C)和射级（E), 规格书推荐电路:光电三极管在未导通时（没有光照），由于三极管本身的PN结，可以C级和E级可以被视为一个极大的电阻，使得电源端（VCC）经过RL和CE级分压后，Test point得到一个高电平，导通时（有B级有光照），由于PN 结特性，CE级两端，可以被视为导通（阻值极小），VCC 分压后，Test point即得到一个低电平，流程图如图2所述。改进后，电路将光耦电路常用的集电极输出修改为发射极输出，利用光电三极管本身的PN 结，防止待机时，投影仪主控芯片的PM检测口（Sensor_out）的高电平依次通过光耦发射极、光耦集电极，逆向流到电源端Vcc，导致待机异常。因此，通过光耦本身的PN结，没有成本的增加实现了待机逆流保护，使系统工作更稳定。

附图说明