[实用新型]一种用于近红外光谱仪上的样品自动参比组件

说明书

本实用新型属于样品检测技术领域，尤其涉及一种用于近红外光谱仪上的样品自动参比组件，包括固定底板、步进电机，所述固定底板的前壁上开设有通孔，所述通孔左下角的固定底板上固定连接电机固定架，所述电机固定架上固定有步进电机，所述步进电机的输出轴上固定套有转杆，所述转杆上固定有呈扇形结构的参比板，所述参比板的前壁左端开设有圆形凹槽，所述圆形凹槽内粘贴有薄膜，所述固定底板前壁顶部的左端固定连接有光耦固定支架，所述光耦固定支架的前壁底部固定连接有呈L型结构的光耦固定杆，所述光耦固定杆的一端延伸至固定底板的左侧，该用于近红外光谱仪上的样品自动参比组件可以自动移动校准测量位和参比测量位，自动化程度高。

技术领域

本实用新型属于样品检测技术领域，尤其涉及一种用于近红外光谱仪上的样品自动参比组件。

背景技术

红外(NIR)光谱检测技术是近年来发展较为迅速的一种高新分析测试技术,与传统分析技术相比,近红外光谱仪具有无损检测、分析效率高、分析速度快、分析成本低、重现性好等独特优势。而现有近红外光谱仪对样品进行对比分析时，都是手动操作将校准位和参比为放置在光源能照射的位置，劳动强度大，测量效率底。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术中存在的上述不足，提出一种用于近红外光谱仪上的样品自动参比组件，可以自动移动校准测量位和参比测量位，自动化程度高。

本实用新型解决其技术问题是采用以下技术方案实现的：

一种用于近红外光谱仪上的样品自动参比组件，包括固定底板、步进电机，所述固定底板的前壁上开设有通孔，所述通孔左下角的固定底板上固定连接电机固定架，所述电机固定架上固定有步进电机，所述步进电机的输出轴上固定套有转杆，所述转杆上固定有呈扇形结构的参比板，所述参比板的前壁左端开设有圆形凹槽，所述圆形凹槽内粘贴有薄膜，所述固定底板前壁顶部的左端固定连接有光耦固定支架，所述光耦固定支架的前壁底部固定连接有呈L型结构的光耦固定杆，所述光耦固定杆的一端延伸至固定底板的左侧，所述固定底板左侧的光耦固定杆底部固定有光耦，所述光耦为槽型光耦，所述光耦的槽口朝向步进电机的一侧设置，且参比板能够从光耦上的槽内穿过。

进一步的，所述电机固定架包括固定块、相互平行的第一L型支架和第二L型支架，所述第一L型支架和第二L型支架均固定设置于固定底板上，所述固定块设置于固定底板的前侧，所述第一L型支架和第二L型支架的前端均与固定块的后壁固定连接，所述第二L型支架设置于第一L型支架右侧的下方。

进一步的，所述步进电机固定设置于固定块的前壁上，所述步进电机上的输出轴穿过固定块并位于固定块与固定底板之间。

进一步的，所述转杆和参比板为一体结构，且转杆位于固定块和固定底板之间。

进一步的，所述光耦设置于通孔的左侧上方。

进一步的，所述薄膜为聚苯乙烯薄膜。

进一步的，所述转杆远离步进电机的一端延伸至固定块的外侧。

与现有技术相比，本实用新型产生的有益效果是：

1、本实用新型通过参比板上设置圆形凹槽，圆形凹槽内设置薄膜，使参比测量位和校准测量位结合为一体，方便测量，并且通过步进电机驱动参比板旋转，使参比测量位、校准测量位能够自动移动到通孔所在的部位，实现光源对参比测量位、校准测量位的照射，实现了自动参比、自动校准的功能，无需手动操作，降低了劳动强度，并且精准性和稳定性得到提高。

附图说明

以下将结合附图和实施例来对本实用新型的技术方案作进一步的详细描述，但是应当知道，这些附图仅是为解释目的而设计的，因此不作为本实用新型范围的限定。此外，除非特别指出，这些附图仅意在概念性地说明此处描述的结构构造，而不必要依比例进行绘制。

下面结合附图对本实用新型进一步说明：