[实用新型]一种芯片的漏电流测试系统

说明书

本实用新型提供了一种芯片的漏电流测试系统，包括底座，所述底座为U型结构，所述底座的一个竖部上连接第一侧板，所述底座的另一个竖部上连接第二侧板，所述第一侧板和所述第二侧板为水平相对，所述底座的横部上分别设有第一旋转电机和第二旋转电机，本实用新型通过传送机构向测试机构自动送料，测试机构对待测芯片进行漏电流测试，各引脚的漏电流经多路模拟选择开关送入控制模块进行处理，并判定良品或废品，分拣机构根据控制模块的判定结果分别将良品放入良品箱或将废品放入废品箱，自动化及智能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测试精度，提升了生产和加工效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测设备技术领域，特别涉及一种芯片的漏电流测试系统。

背景技术

理想条件下，芯片的引脚和大地之间是开路的，但实际情况下，它们之间为高阻状态，加上电压时可能会有微小的电流流过，这种电流称为漏电流。在芯片流片之后，需要测试芯片的漏电流是否达标，如果芯片的漏电流过大，比如应用到手机、笔记本电脑等需要电池供电的电子设备上，芯片会严重的影响待机时间，影响产品的质量，因此漏电流需要慎重考虑。

近年来，随着集成电路的发展，各种芯片引脚越来越密，引脚越来越多，引脚间距也越来越小，给生产、维修、组装和测试带来不少的困难。现有的漏电流测量方法，通常为人工采用测试治具和万用表，逐个测试芯片引脚的漏电流，该方法测试效率十分低下，测试精度无法得到保证，大大影响了生产和加工效率。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

为了解决上述问题，本实用新型提供了一种芯片的漏电流测试系统，通过传送机构向测试机构自动送料，测试机构对待测芯片进行漏电流测试，各引脚的漏电流经多路模拟选择开关送入控制模块进行处理，并判定良品或废品，分拣机构根据控制模块的判定结果分别将良品放入良品箱或将废品放入废品箱，自动化及智能化程度高，大大降低了人工劳动强度，提升了测试效率，保证了测试精度，提升了生产和加工效率。

(二)技术方案