[实用新型]一种玉米株高及穗位测量装置有效

专利信息
申请号: 201820767666.3 申请日: 2018-05-22
公开(公告)号: CN208224495U 公开(公告)日: 2018-12-11
发明(设计)人: 高瑞红;徐嘉;温日宇 申请(专利权)人: 山西省农业科学院玉米研究所
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08
代理公司: 西安铭泽知识产权代理事务所(普通合伙) 61223 代理人: 俞晓明
地址: 034000 *** 国省代码: 山西;14
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摘要:
搜索关键词: 第二测量 第一测量 豁口 圆环 本实用新型 激光测距仪 测量装置 测量组件 伸缩装置 株高测量 支撑座 固接 玉米 测量 农业技术领域 同轴线设置 手扶装置 玉米茎秆 组件包括 豁口处 支腿 匹配
【权利要求书】:

1.一种玉米株高及穗位测量装置,其特征在于,包括支撑座、设在支撑座上的伸缩装置、固接在伸缩装置上的株高测量组件和穗位测量组件;

所述支撑座包括用于将玉米株围起来的、开有豁口的圆环(1),所述圆环(1)的底部固接有多个支腿(2);

所述株高测量组件位于穗位测量组件的上方,所述穗位测量组件包括带有豁口的第一测量环(401)和第一激光测距仪(402),所述第一测量环(401)通过第一连接杆(403)与伸缩装置固接,所述第一激光测距仪(402)固接在第一连接杆(403)上;所述株高测量组件包括带有豁口的第二测量环(501)和第二激光测距仪(502),所述第二测量环(501)通过第二连接杆(503)与伸缩装置固接,所述第二激光测距仪(502)固接在第二连接杆(503)上,所述圆环(1)、第一测量环(401)和第二测量环(501)的豁口开在同一侧,且所述圆环(1)、第一测量环(401)和第二测量环(501)同轴线设置,所述第一测量环(401)和第二测量环(501)的直径与玉米茎秆的直径相匹配。

2.根据权利要求1所述的玉米株高及穗位测量装置,其特征在于,所述第一激光测距仪(402)设在第一连接杆(403)后侧壁上,所述第二激光测距仪(502)设在第二连接杆(503)的前侧壁上。

3.根据权利要求1所述的玉米株高及穗位测量装置,其特征在于,所述伸缩装置包括固定在圆环(1)上的第一伸缩杆(301)和固接在第一伸缩杆(301)伸缩端的第二伸缩杆(302),所述第一伸缩杆(301)的伸缩端固接有穗位测量组件,所述第二伸缩杆(302)的伸缩端固接有株高测量组件。

4.根据权利要求3所述的玉米株高及穗位测量装置,其特征在于,所述伸缩装置设有两组,分别为第一伸缩装置和第二伸缩装置,所述第一伸缩装置和第二伸缩装置对称固定在圆环(1)上,所述第二伸缩装置包括固定在圆环(1)上的第三伸缩杆(303)和固接在第三伸缩杆(303)上的第四伸缩杆(304),所述第一伸缩杆(301)和第三伸缩杆(303)的伸缩端之间设有穗位测量组件,所述第二伸缩杆(302)和第四伸缩杆(304)的伸缩端之间设有株高测量组件。

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