[实用新型]一种采用金属箔贴片式天线触点设计的纸线圈装置有效

专利信息
申请号: 201820800380.0 申请日: 2018-05-25
公开(公告)号: CN208580157U 公开(公告)日: 2019-03-05
发明(设计)人: 张龙 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/02;H01Q1/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102209 北京市昌平区北七家镇未*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 非接触智能卡 触点 贴片 铜箔 天线触点 本实用新型 贴片式天线 线圈装置 金属箔 测试 焊接 标准化 测试过程 测试机具 更换模块 模块更换 线圈引线 谐振频率 压紧接触 压紧 粘贴 保证
【说明书】:

实用新型公开了一种采用金属箔贴片式天线触点设计的纸线圈装置,主要用于非接触智能卡标准化测试,属于非接触智能卡测试过程中的一种测试机具。这种用于非接触智能卡标准化测试的装置,包括纸线圈、天线触点贴片铜箔。其特征是:两个天线触点贴片铜箔按照非接触智能卡模块相应的触点粘贴于纸线圈上,纸线圈引线与贴片铜箔进行焊接;非接触智能卡模块贴于纸线圈上,两触点与纸线圈上天线触点贴片铜箔压紧接触。本实用新型的有益效果是采用触点压紧的方式进行测试可以节省时间,方便模块更换,而且在更换模块时不会因频繁焊接而损坏纸线圈,从而保证线圈的谐振频率等参数不发生改变。

技术领域

本实用新型涉及非接触智能卡模块测试领域,提供了一种快速测试模块非接性能的标准纸线圈设计。

背景技术

随着非接触智能卡的大量应用,测试非接触智能卡性能非常必要。在设计阶段中的样品验证阶段,会对智能卡模块各个功能、性能进行测试,测试模块的非接性能就需要在模块上加入非接天线,将天线与模块进行连接。

测试阶段会提供设计好的纸线圈,智能卡模块测试非接性能则将纸线圈与模块进行焊接。但是,在焊接过程中有可能将线圈和模块破坏;也有可能破坏了线圈的形状,从而更改了线圈的电感参数,进而影响测试中的谐振频率,使测试不准确。焊接过程很耗费时间,测试大量模块时更换困难。

实用新型内容

针对将纸线圈与智能卡模块焊接方式耗费时间且容易破坏线圈和模块的缺点,本实用新型提出了一种便捷的纸线圈与智能卡模块进行连接的方式。使用本实用新型可以很好的保护纸线圈和模块不被损坏,同时更换模块非常方便。

本实用新型提出了一种采用金属箔贴片式天线触点设计的纸线圈装置,主要用于非接触智能卡标准化测试的装置,包括:纸线圈、天线触点金属箔贴片。

天线触点金属箔贴片根据智能卡模块天线接口位置贴于纸线圈上,贴片位置确保智能卡模块的非接接口可以准确的与金属箔贴片连接。然后将纸线圈天线引线与金属箔贴片进行焊接。在非接触智能卡模块天线接口处涂焊锡,将智能卡模块天线接口对准金属箔贴片位置后压紧贴于金属箔贴片上进行测试。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图

具体实施方式

参照附图1设计如下:一种采用金属箔贴片式天线触点设计的纸线圈用于非接触智能卡标准化测试的装置,包括纸线圈1及铜箔贴片2,其特征是:所述的两个天线触点铜箔贴片2按照非接触智能卡模块相应的触点间距粘贴于纸线圈1上,然后纸线圈1的天线接口引出线与天线触点铜箔贴片2进行焊接,非接触智能卡模块3的射频接口涂焊锡后贴于铜箔贴片上压紧,实现了非接触智能卡模块3与纸线圈1的天线触点贴片连接。需要更换非接触智能卡模块3时,将其松开拿下更换另一个模块即可。

本实施例中采用的是铜箔贴片触点,实际并不仅限于采用铜箔贴片触点,诸如镀金、镀银、铅锡等处理的金属箔贴片触点均可视为本属于权利要求的保护范围内。

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