[实用新型]一种分散控制系统机柜内模件通道自动测试装置

说明书

本实用新型公开了一种分散控制系统机柜内模件通道自动测试装置，包括装置框架、CPU、NAT1000信号源机箱、信号转接部件、电磁铁；信号转接部件可上下移动地设于装置框架上；信号转接部件上设有模件测试用的探针；CPU固定设于装置框架上；NAT1000信号源机箱分别与CPU、探针通讯相连；电磁铁固定设于装置框架上。本实用新型仅需单人操作，不再像当前的人工测试那样需要双人操作；且利用内部包含电压、电流、电阻、开关量等多种针对NT6000V4模件的IO信号源卡的NAT1000信号源机箱，可根据本装置发送的指令切换相应的输入/输出信号，无须准备多种测试仪表。

技术领域

本实用新型提供一种分散控制系统机柜内模件通道自动测试装置，具体为用于NT6000V4 DCS整机装配后的机柜内模件通道功能测试的装置。

背景技术

目前NT6000V4 DCS系统在整机装配后，机柜内模件通道功能测试还采取手动测试的方式，利用将测试仪表表笔点触在模件底座接线端子表面的方式测试，测试人员需要准备多种测试仪表，测试过程中针对不同通道类型模件需要要更换相应仪表，且需要对模件的多个通道逐个测试，输出型模件测试结果由测试人员通过仪表判定，输入型模件测试结果由测试人员设定好仪表输出值，由专人通过NT6000V4系统上位机软件观察模件采样结果并判定，测试效率非常低下。假设某数字量输入模件有16个通道，测试人员首先需要更换支持数字量测试的仪表，逐个通道加入数字量信号，由另外一人通过系统上位机软件观察采样结果并进行确认，每个通道测试至少需要3~4秒，则一个16通道数字量输入模件需要至少48~64秒才能测试完成，效率较低，如果是模拟量模件，每个通道还需要测试至少三种模拟值以确保全量程范围的采样精度，效率更加低下。

发明内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺陷，提供一种能够对模件进行多通道自动测试的装置。

为了达到上述目的，本实用新型提供了一种分散控制系统机柜内模件通道自动测试装置，包括装置框架、CPU、NAT1000信号源机箱、信号转接部件、电磁铁；所述信号转接部件可上下移动地设于所述装置框架上；所述信号转接部件上设有模件测试用的探针；所述CPU固定设于所述装置框架上；所述NAT1000信号源机箱分别与CPU、探针通讯相连；所述电磁铁固定设于所述装置框架上。

进一步的，测试装置还包括压针杠杆把手、连杆、压针连接杆、限位柱；所述压针杠杆把手前端垂直于手柄方向设置上下两个安装孔，通过上孔与压针连接杆末端旋转连接，通过下孔与所述连杆旋转连接；所述连杆另一端铰接设于所述装置框架上；所述压针连接杆的另一端穿过装置框架与所述信号转接部件相连；所述装置框架两侧下方设有限位孔；所述限位柱垂直设于所述信号连接部件两侧，且上部设于对应的限位孔内。

进一步的，信号转接部件采用PCB板；所述探针焊接在所述PCB板上；所述PCB板上还焊接有DB44接口；所述CPU、探针分别通过DB44接口与NAT1000信号源机箱相连；所述PCB板通过信号转接部件固定框架固定；所述限位柱下端与所述信号转接部件固定框架相连。

进一步的，测试装置还包括定位销；所述定位销设于所述装置框架下方，且定位销与电磁铁分别位于所述探针的两侧。

进一步的，定位销采用弹性定位销；所述定位销为两个，位于同一水平面的前后两端。

进一步的，测试装置还包括定位台阶；所述定位台阶位于所述装置框架下方、定位销与电磁铁之间。

进一步的，测试装置还包括控制面板；所述CPU设于控制面板内；所述控制面板还包括显示屏；所述显示屏与CPU相连。

进一步的，探针采用40位探针。

进一步的，装置框架采用手持式框架，其上设有框架把手。

本实用新型相比现有技术具有以下优点：